Highlights

IC-CAP 2012.01 的新特性和更新特性

  • SQL 数据库链路――该链路可从 SQL 数据库保存和获取数据，与 WaferPro 和 DataPro 连用并在本地 IC-CAP 环境中使用。
  • W8503 IC-CAP 数据处理和选择工具（DataPro）――DataPro 能够对测量数据进行统计分析、确定异常器件及选择标准模具和角模具――通过从 WaferPro 和 SQL 数据库导入数据，可完全集成于建模流程。
  • W8531 NeuroFET 提取套件――Keysight NeuroFET 模型使用人工神经网络描述测量电流和电荷，并提供几个优于传统测量模型的优势。
  • 仪器驱动程序――添加了对新型 Keysight B2900A 系列精密源/测量单元（SMU）的支持。此外，B1500A 驱动程序现在可进行时域测量。
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Description

IC-CAP Device Modeling SoftwareIC-CAP 2012.01 提供自动测量解决方案－－IC-CAP WaferPro，能够将大量数据高效地存储到 SQL 数据库。要想完成从测量到建模的整个建模流程，可导使用称为数据处理和选择（DataPro）的新工具分析和识别测量数据，以进行建模。IC-CAP 2012.01 还提供 NeuroFET 功能－－新增的完整测量 FET 建模流程――从自动控制数据采集、人工神经网络（ANN）培训到用于非线性电路设计的非准静态 FET 模型仿真。新测量功能和编程特性可为 IC-CAP 2012.01 提供额外优势。

IC-CAP SQL 数据链路

IC-CAP 现在可以创建或连接到 SQL 数据库。使用数据库并将数据存储到文件系统的一个主要优势是可以非常简单、快速地搜索数据（因为无需打开每个文件）。其他关键优势是存储器易于管理（无需将数百万字节的数据负载到 IC-CAP，而进行选择）、轻松维护、更加安全（中心位置、密码保护等）而且很少出现错误。
在自动化测量过程中，WaferPro 会将数据存储到数据库（提供文件存储选件）。可通过预定义的数据库模式保存数据，此数据库模式能够存储各种典型的晶圆上测量信息，例如晶圆、模具、器件信息等。该模式非常灵活并且经优化可加快查询速度，因此用户能够根据在测量过程中保存的信息定制数据。您可以按照测量“运行”时间戳，将器件信息、例程和测量条件、扫描和点测数据保存到数据库。稍后，将数据导入其他工具，例如全新 DataPro。以 PEL 为基础的 API 能够访问该数据库、明确表达 SQL 查询并将数据导回 IC-CAP 环境。IC-CAP 2012.01 支持 MySQL 和 SQLite 数据库。

W8503 IC-CAP DATAPRO

IC-CAP DataPro 可根据选定的目标处理统计数据，并识别用于器件提取的标准和典型模具。该工具可帮助用户确定和排除异常器件，异常器件的行为与统计平均值相差很大。

DataPro 可连接到现有数据库或文件库。方便的用户界面支持用户选择目标数据，以进行统计分析。选定的目标可以是扫描曲线（例如 Id 与 Vd）或是点数据（例如 Vth 或 Idmax）。该程序可对目标数据进行统计分析并计算平均值和方差。直方图等统计图使用户能够检测数据及其分布，并确定和排除异常。该软件可精确指定用于典型器件模型提取的标准模具和用于角建模的角模具。有关 DataPro 的更多信息，请参见 W8503EP IC-CAP 数据处理和分析（DataPro）页面。
 

WaferPro and DataPro Flow
图 1. WaferPro 和 DataPro 流程

W8531 NEUROFET 提取套件

NeuroFET 提取套件许可证可为 FET 和 HEMT 器件的 Keysight NeuroFET 模型提供提取程序，它是是德技术中心开发的新模型。该提取套件支持用户执行所有必要的直流和 S 参数测量，以提取模型。在完成高功率区域测量之前，专用的采集程序可避免测量过程中出现器件降级。通过以多线程方式执行误差优化流程，专用程序可最大限度地提高 CPU 使用率，从而自动完成 ANN 培训。是德的先进设计系统（ADS）提供该模型。更多信息，请参见 W8531EP IC-CAP NeuroFET 提取套件页面。
NeuroFET Measurement and Extraction Flow
图 2. NeuroFET 测量和提取流程

最新测量功能

IC-CAP 2012.01 现在支持新型 Keysight B2900A 系列精密源/测量单元（SMU）。B2900A 系列提供经济高效的测量解决方案。B2900A 驱动程序支持仪器的脉冲和采样（时域）模式。B1500A 和 B1505A 驱动程序添加了增强功能，可支持时域测量。IC-CAP 2012.01 允许用户选择用于在仪器和 IC-CAP 之间进行测量数据传输的字节数，以提供用于从 B1500A、B1505A 和 E5270B 直流分析仪读取高分辨率数据的选件。


图 3. 新型 Keysight B2900A 系列精密 SMU

SOLARIS 停用通知

从新的 IC-CAP 版本开始，Keysight EEsof EDA 将不再发布以 Solaris（SUN OS）平台为基础的 IC-CAP。

更多信息

请访问 IC-CAP 2012.01 的新特性，获得关于该版本新特性的更多信息和实例。

第一步

如果您已决定开始使用 IC-CAP，请填写并提交 Keysight EEsof EDA 软件演示申请表。

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