如何優化 VCSEL 脈衝性能

+ 模組化 PXIe 精密 SMU

優化窄脈衝 VCSEL 的性能

垂直腔面發射雷射（VCSEL）的脈衝測試，需要控制輸送至被測裝置（DUT）的電流波形。實際輸出脈衝會隨被測裝置的阻抗而變化，導致所測得的波形與預設的訊源設定有所不同。因此，必須在連接的裝置上評估脈衝振幅、上升時間、穩態行為及脈衝波形，而非僅根據設定的訊源參數來推斷。

此測試會在施加窄脈衝電流的同時，擷取實際輸出波形，並針對所連接的被測裝置（DUT）調整信源參數。工程師可隨著設定的調整，比較各階段的脈衝響應，並驗證所得波形是否符合預期的脈衝振幅與波形。此量測流程可支援在不同阻抗條件下，對各類 VCSEL 裝置進行可重複的脈衝特性分析。

最佳化 VCSEL 脈衝性能解決方案

要優化 VCSEL 脈衝性能，必須測量實際電流波形，並根據連接裝置的阻抗調整源參數。是德科技 (Keysight) 精密 PXIe 源/量測單元 (SMU) 提供了一項調諧工具，可根據不同的被測裝置 (DUT) 阻抗條件調整 SMU 參數，以獲得最佳的脈衝性能。由於 DUT 阻抗可能會使實際輸出脈衝偏離預設設定，因此內建的波形量測功能可讓使用者清楚掌握輸出的電流波形。是德科技精密 PXIe 源/量測單元 (SMU) 還支援短至 10 µs 的窄脈衝電流輸出，以及最高達 15 MSa/s 的內嵌高速量測，使您能夠在同一個量測平台上評估脈衝設定及隨之產生的瞬態行為。

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