如何優化 VCSEL 脈衝性能

+ 模組化 PXIe 精密源極/量測單元 (SMU)

最佳化窄脈衝 VCSEL 效能

垂直共振腔面射型雷射（VCSEL）脈衝測試需要精準控制傳送至待測物（DUT）的電流波形。實際的輸出脈衝可能會隨 DUT 阻抗而改變，導致測得的波形與編程的源極設定有所差異。因此，脈衝振幅、上升時間、穩定行為與脈衝形狀皆需在連接的裝置端進行評估，而非僅從設定的源極參數進行推斷。

此測試會施加窄電流脈衝，同時擷取實際的輸出波形，並針對所連接的 DUT 調整源極參數。工程師可以在調整設定時比較脈衝響應，並驗證產生的波形是否提供預期的脈衝振幅和形狀。此量測過程支援在具有不同阻抗條件的 VCSEL 元件上進行可重複的脈衝特性分析。

最佳化 VCSEL 脈衝性能解決方案

最佳化 VCSEL 脈衝效能需要量測實際的電流波形，並針對所連接元件的阻抗調整源極參數。Keysight 精密 PXIe 源極/量測單元 (SMU) 提供調校公用程式，可在不同的 DUT 阻抗條件下調整 SMU 參數以達到最佳脈衝效能。由於 DUT 阻抗可能會改變程式化設定中的實際輸出脈衝，因此內嵌的波形量測功能可讓使用者檢視輸送的電流波形。Keysight 精密 PXIe 源極/量測單元 (SMU) 還支援下探至 10 µs 的窄電流脈衝源極輸出，以及高達 15 MSa/s 的內嵌高速量測，允許在同一個量測平台內評估脈衝設定與產生的暫態行為。

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