Comment optimiser les performances des impulsions VCSEL

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Optimisation des performances des VCSEL à impulsion étroite

Les essais par impulsions sur les lasers à cavité verticale à émission par la surface (VCSEL) nécessitent de contrôler la forme d'onde du courant fourni au dispositif sous test (DUT). L'impulsion de sortie réelle peut varier en fonction de l'impédance du DUT, ce qui peut entraîner un écart entre la forme d'onde mesurée et les réglages programmés de la source. L'amplitude de l'impulsion, le temps de montée, le comportement de stabilisation et la forme de l'impulsion doivent donc être évalués au niveau du dispositif connecté, plutôt que d'être déduits uniquement à partir des paramètres configurés de la source.

Le test consiste à appliquer une impulsion de courant de faible amplitude tout en enregistrant la forme d'onde de sortie réelle et en ajustant les paramètres de la source en fonction du dispositif sous test (DUT) connecté. Les ingénieurs peuvent comparer les réponses impulsionnelles au fur et à mesure que les réglages sont ajustés et vérifier que la forme d'onde obtenue présente l'amplitude et la forme d'impulsion souhaitées. Ce processus de mesure permet une caractérisation impulsionnelle reproductible sur l'ensemble des dispositifs VCSEL, quelles que soient leurs conditions d'impédance.

Solution optimisée pour les performances des impulsions VCSEL

Pour optimiser les performances des impulsions VCSEL, il est nécessaire de mesurer la forme d’onde réelle du courant et d’ajuster les paramètres de la source en fonction de l’impédance du dispositif connecté. L’unité de source/mesure (SMU) Precision PXIe de Keysight intègre un utilitaire de réglage qui adapte les paramètres de la SMU afin d’obtenir des performances d’impulsion optimales dans différentes conditions d’impédance du dispositif sous test (DUT). L’impédance du DUT pouvant modifier l’impulsion de sortie réelle par rapport aux réglages programmés, la fonctionnalité intégrée de mesure de forme d’onde permet de visualiser la forme d’onde du courant délivré. L'unité de source/mesure (SMU) Precision PXIe de Keysight prend également en charge la génération d'impulsions de courant étroites jusqu'à 10 µs et la mesure haute vitesse intégrée jusqu'à 15 MSa/s, ce qui permet d'évaluer les réglages d'impulsion et le comportement transitoire qui en résulte au sein d'une même plateforme de mesure.
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Schéma fonctionnel d'une solution optimisant les performances des impulsions VCSEL

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