Come ottimizzare le prestazioni degli impulsi VCSEL

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Ottimizzazione delle prestazioni dei VCSEL a impulso stretto

I test a impulsi sui laser a cavità verticale con emissione superficiale (VCSEL) richiedono il controllo della forma d'onda della corrente erogata al dispositivo in prova (DUT). L'impulso di uscita effettivo può variare in funzione dell'impedenza del DUT, causando una discrepanza tra la forma d'onda misurata e le impostazioni programmate della sorgente. L'ampiezza dell'impulso, il tempo di salita, il comportamento di assestamento e la forma dell'impulso devono quindi essere valutati sul dispositivo collegato, anziché essere dedotti esclusivamente dai parametri configurati della sorgente.

Il test applica un impulso di corrente di ampiezza ridotta, acquisendo al contempo la forma d'onda effettiva in uscita e regolando i parametri della sorgente in base al dispositivo in prova (DUT) collegato. Gli ingegneri possono confrontare le risposte agli impulsi man mano che le impostazioni vengono ottimizzate e verificare che la forma d'onda risultante fornisca l'ampiezza e la forma dell'impulso previste. Questo processo di misurazione consente una caratterizzazione a impulsi ripetibile su dispositivi VCSEL con diverse condizioni di impedenza.

Soluzione ottimizzata per le prestazioni degli impulsi VCSEL

L’ottimizzazione delle prestazioni degli impulsi VCSEL richiede la misurazione dell’effettiva forma d’onda della corrente e la regolazione dei parametri della sorgente in base all’impedenza del dispositivo collegato. L’unità di sorgente/misura (SMU) Precision PXIe di Keysight offre un’utilità di regolazione che adatta i parametri della SMU per ottenere prestazioni ottimali degli impulsi in diverse condizioni di impedenza del dispositivo in prova (DUT). Poiché l’impedenza del DUT può alterare l’impulso di uscita effettivo rispetto alle impostazioni programmate, la funzionalità integrata di misurazione della forma d’onda fornisce visibilità sulla forma d’onda della corrente erogata. L’unità di sorgente/misura (SMU) Precision PXIe di Keysight supporta inoltre l’erogazione di impulsi di corrente stretti fino a 10 µs e la misurazione integrata ad alta velocità fino a 15 MSa/s, consentendo di valutare le impostazioni degli impulsi e il comportamento transitorio risultante all’interno della stessa piattaforma di misurazione.
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Schema a blocchi della soluzione ottimizzata per le prestazioni degli impulsi VCSEL

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