Come caratterizzare il comportamento dinamico degli impulsi dei VCSEL
Caratterizzazione della risposta dinamica agli impulsi dei VCSEL
La caratterizzazione degli impulsi dei laser a emissione superficiale a cavità verticale (VCSEL) richiede l'invio di un impulso di corrente controllato, misurando al contempo la corrente e la tensione del dispositivo per tutta la durata dell'impulso. Il sistema di misurazione deve garantire una velocità di campionamento sufficiente a risolvere il fronte di salita, la regione dell'impulso e il fronte di discesa, in modo da poter osservare le variazioni nel comportamento del dispositivo all'interno di una finestra di misurazione ristretta.
Il campionamento ad alta velocità acquisisce l'effettivo impulso di corrente erogato al dispositivo insieme alla sua risposta dinamica in tensione. È possibile effettuare misurazioni a partire dalla regione transitoria fino al plateau dell'impulso, per valutare come le caratteristiche elettriche variano in funzione del tempo e del livello di corrente. Le forme d'onda acquisite forniscono dati correlati nel tempo per l'analisi della forma dell'impulso e del comportamento dinamico del dispositivo durante la caratterizzazione LIV (Light-Current-Voltage).
Soluzione dinamica per la caratterizzazione degli impulsi VCSEL
Schema a blocchi della soluzione per la caratterizzazione dinamica degli impulsi VCSEL
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Unità di misura e generazione di segnali PXIe M9602A, 1 pA
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M9603A Unità di misura e generazione di precisione PXIe, 100 fA
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Risorse aggiuntive per la caratterizzazione delle unità di sorgente/misura (SMU) PXIe di precisione
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