Come migliorare la precisione delle misurazioni a impulsi dei VCSEL
Ridurre gli errori di misurazione dovuti agli impulsi stretti
La caratterizzazione dei laser a emissione superficiale a cavità verticale (VCSEL) a impulso stretto richiede il controllo degli errori di misura introdotti tra l’unità sorgente/misura (SMU) e il dispositivo in prova. L’impedenza del cavo può causare cadute di tensione, mentre l’induttanza del cavo può influenzare la risposta transitoria e introdurre un overshoot. Questi effetti diventano più significativi durante le misure a impulsi e possono far sì che la forma d’onda della tensione o della corrente misurata differisca dalla risposta del dispositivo.
La configurazione di misura richiede il rilevamento della tensione in prossimità del dispositivo e un percorso di collegamento adatto a impulsi transitori veloci. Il confronto delle risposte transitorie misurate aiuta a identificare le differenze causate dalla configurazione di rilevamento e dalle caratteristiche dei cavi. Per gli impulsi brevi, la riduzione dell'induttanza dei cavi produce inoltre un impulso di corrente più pulito con un overshoot minore, migliorando le condizioni elettriche utilizzate per la caratterizzazione LIV (Light-Current-Voltage).
Soluzione accurata per la misurazione a impulsi con VCSEL
Schema a blocchi di una soluzione accurata per la misurazione a impulsi con VCSEL
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Unità di misura e generazione di segnali PXIe M9602A, 1 pA
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M9603A Unità di misura e generazione di precisione PXIe, 100 fA
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Risorse aggiuntive per le misurazioni con l'unità di sorgente/misura (SMU) Precision PXIe
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