VCSEL 펄스 측정 정확도를 높이는 방법

모듈형 PXIe 정밀 SMU
+ 모듈형 PXIe 정밀 SMU

협소 펄스 측정 오차 감소

협소 펄스 VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser) 특성화를 위해서는 소스/측정 유닛(SMU)과 피시험 부품 사이에 발생하는 측정 오차를 제어해야 합니다. 케이블 임피던스는 전압 강하를 유발할 수 있으며, 케이블 인덕턴스는 과도 응답에 영향을 미쳐 오버슈트를 발생시킬 수 있습니다. 이러한 효과는 펄스 측정 시 더욱 두드러지며, 측정된 전압 또는 전류 파형이 디바이스의 응답과 달라지게 만드는 원인이 됩니다.

이 측정 설정에는 디바이스에 더 가까운 위치에서의 전압 센싱과 빠른 과도 펄스에 적합한 연결 경로가 필요합니다. 측정된 과도 응답을 비교하면 센싱 구성과 케이블 특성으로 인해 발생하는 차이를 식별하는 데 도움이 됩니다. 짧은 펄스의 경우, 케이블 인덕턴스를 줄이면 오버슈트가 적은 더 깨끗한 전류 펄스가 생성되어 LIV(Light-Current-Voltage) 특성화에 사용되는 전기적 조건이 개선됩니다.

정밀한 VCSEL 펄스 측정 솔루션

정밀한 협소 펄스 VCSEL 측정을 위해서는 측정 장비와 피시험 부품 간의 연결로 인해 발생하는 오차를 줄여야 합니다. 키사이트 정밀 PXIe 소스/측정 유닛(SMU)은 측정 오차가 더 작은 고속 과도 펄스 전압 측정을 위해 원격 과도 전압 측정(Remote Transient Voltage Measurement)을 지원합니다. 전용 측정 단자는 SMU 내부 회로 임피던스의 영향을 줄이고 전압 센싱 지점을 디바이스에 더 가깝게 확장합니다. 50 µs 미만의 펄스의 경우, 솔루션 브리프에서는 케이블 관련 오차를 줄이고 협소 펄스 오버슈트를 완화하여 더 깨끗한 소싱 전류 펄스를 구현할 수 있도록 특별히 설계된 저인덕턴스 케이블을 사용할 것을 권장합니다.

정밀 VCSEL 펄스 측정 솔루션의 블록 다이어그램

VCSEL 펄스 측정 정확도를 높이는 방법

정밀 VCSEL 펄스 측정 솔루션 제품 살펴보기

리소스 및 인사이트 알아보기

정밀 PXIe 소스/측정 장치(SMU) 측정을 위한 추가 리소스

관련 사용 사례

문의하기 로고

전문가에게 문의하십시오.

적합한 솔루션을 찾는 데 도움이 필요하십니까?