Como melhorar a precisão da medição pulsada de VCSELs

SMU modular de precisão PXIe
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Reduzir erros de medição em pulsos estreitos

A caracterização do laser de cavidade vertical com emissão superficial (VCSEL) de pulso estreito requer o controle dos erros de medição introduzidos entre a Unidade de Fonte e Medição (SMU) e o dispositivo em teste. A impedância do cabo pode causar quedas de tensão, enquanto a indutância do cabo pode afetar a resposta transitória e introduzir overshoot. Esses efeitos tornam-se mais significativos durante medições pulsadas e podem fazer com que a forma de onda medida de tensão ou corrente difira da resposta no dispositivo.

A configuração de medição requer a detecção de tensão mais próxima do dispositivo e um caminho de conexão adequado para pulsos transientes rápidos. A comparação da resposta transiente medida ajuda a identificar diferenças causadas pela configuração de detecção e pelas características do cabo. Para pulsos curtos, a redução da indutância do cabo também produz um pulso de corrente mais limpo, com menos overshoot, melhorando as condições elétricas utilizadas para a caracterização de Luz-Corrente-Tensão (LIV).

Solução precisa para medição de pulsos de VCSEL

A medição precisa de VCSELs de pulso estreito requer a redução dos erros introduzidos pela conexão entre o instrumento de medição e o dispositivo em teste. A Unidade de Fonte/Medição (SMU) Precision PXIe da Keysight suporta a Medição Remota de Tensão Transiente para medições rápidas de tensão pulsada transiente com menor erro de medição. Um terminal de medição dedicado reduz a influência da impedância do circuito interno da SMU e aproxima o ponto de detecção de tensão do dispositivo. Para pulsos com duração inferior a 50 µs, o resumo da solução também recomenda um cabo de baixa indutância especialmente projetado para reduzir erros relacionados ao cabo e mitigar o overshoot de pulsos estreitos, permitindo um pulso de corrente de fonte mais limpo.

Diagrama de blocos da solução de medição pulsada precisa com VCSEL

Como melhorar a precisão da medição pulsada de VCSELs

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