-
Analisadores de parâmetros
Sistemas multifuncionais para caracterização de dispositivos
-
Analisadores de corrente-tensão
Sistemas de medição IV para caracterização de dispositivos
-
Soluções para testes paramétricos
Sistemas de teste ao nível do wafer para validação paramétrica
-
Analisador de dispositivos de potência / rastreador de curvas
Testes de alta potência para dispositivos de Si, SiC e GaN
-
Femto/Picoamperímetros e Eletrometros
Instrumentos para medição de correntes ultrabaixas e alta resistência
-
Arquitetura Universal de Processamento de Sinais
Plataforma de prototipagem em tempo real para o desenvolvimento de circuitos integrados
-
Matriz de comutação de baixo vazamento
Comutação de alto isolamento para roteamento de corrente ultrabaixa
Analisadores de parâmetros
Os analisadores de parâmetros da Keysight fornecem caracterização abrangente de dispositivos semicondutores em uma única plataforma integrada. Combinando testes precisos de corrente-tensão (IV) e capacitância-tensão (CV), medições pulsadas e testes de confiabilidade, esses sistemas modulares suportam uma ampla gama de dispositivos, desde materiais avançados até componentes de alta potência. Com precisão de medição líder do setor, opções de configuração flexíveis e controle de software intuitivo, os analisadores de parâmetros da Keysight ajudam a acelerar a pesquisa, o desenvolvimento e a qualificação de dispositivos. Precisa de ajuda para selecionar? Confira os recursos abaixo.
Analisadores de corrente-tensão
Os analisadores de corrente-tensão da Keysight oferecem recursos precisos e de baixo ruído de fonte e medição, essenciais para a caracterização de dispositivos semicondutores e pesquisa de materiais. Projetados para lidar com uma ampla gama de níveis de corrente e tensão — de correntes femtoamp a varreduras de alta tensão — esses analisadores fornecem medições precisas e repetíveis em diversas aplicações. Com configurações multicanais flexíveis e controle de software intuitivo, os analisadores IV da Keysight ajudam a acelerar o desenvolvimento de dispositivos, testes de confiabilidade e otimização de processos. Precisa de ajuda para selecionar? Confira os recursos abaixo.
Soluções para testes paramétricos
As soluções de teste paramétrico da Keysight combinam instrumentos de medição de alto desempenho com automação flexível para acelerar a avaliação de dispositivos semicondutores, desde o desenvolvimento inicial até a produção em grande volume. Oferecendo testes precisos de corrente-tensão (IV), capacitância-tensão (CV) e confiabilidade, esses sistemas escaláveis ajudam a otimizar o desempenho dos dispositivos, monitorar a variabilidade do processo e garantir a confiabilidade a longo prazo. Projetadas para integração perfeita com testadores de wafer e ambientes de produção, as soluções paramétricas da Keysight oferecem a precisão, velocidade e eficiência necessárias para as tecnologias avançadas de semicondutores atuais. Precisa de ajuda para selecionar? Confira os recursos abaixo.
Analisador de dispositivos de potência / rastreador de curvas
Os analisadores/tracers de curva de dispositivos de potência da Keysight são soluções específicas para avaliar e caracterizar dispositivos semicondutores de alta tensão e alta corrente. Combinando fontes precisas, medições rápidas e análises abrangentes, esses sistemas oferecem suporte a testes críticos para transistores de potência, diodos, IGBTs e dispositivos de banda larga, como SiC e GaN. Com faixas de tensão e corrente escaláveis, recursos de segurança integrados e software intuitivo, as soluções da Keysight ajudam a acelerar o desenvolvimento, melhorar a confiabilidade dos dispositivos e otimizar os testes de produção. Precisa de ajuda para selecionar? Confira os recursos abaixo.
Femto/Picoamperímetros e Eletrometros
Os femto/picoamperímetros e eletrometros da Keysight oferecem sensibilidade líder do setor para medir correntes extremamente baixas, altas resistências e baixas tensões em materiais avançados e dispositivos semicondutores. Com recursos de medição de até 0,01 fA e análise gráfica integrada, esses instrumentos oferecem desempenho preciso, estável e resistente a ruídos para aplicações exigentes, como testes de corrente de fuga, resistência de isolamento e caracterização de corrente ultrabaixa. Projetados para integração em bancada e em sistema, os eletrometros de precisão da Keysight ajudam a acelerar a pesquisa, o desenvolvimento de dispositivos e a garantia de qualidade. Precisa de ajuda para selecionar? Confira os recursos abaixo.
Arquitetura Universal de Processamento de Sinais
A Arquitetura Universal de Processamento de Sinais (USPA) da Keysight oferece um ambiente em tempo real de alto desempenho, modular e totalmente programável para prototipagem e validação ultrarrápidas específicas para cada aplicação. Construída com base nos conversores de dados ADC3 e DAC3 líderes do setor e no processamento de sinais digitais baseado em FPGA, a plataforma USPA permite que os engenheiros iterem e verifiquem projetos rapidamente, reduzindo riscos, tempo de desenvolvimento e custos. Ela oferece suporte a aplicações que abrangem prototipagem de SoC/ASIC, 6G, comunicações ópticas, radar e pesquisa física avançada. Precisa de ajuda para selecionar? Confira os recursos abaixo.
Matriz de comutação de baixo vazamento
As matrizes de comutação de baixo vazamento da Keysight são projetadas para testes automatizados de semicondutores que exigem medição de corrente ultrabaixa e alto desempenho de isolamento. Projetadas para manter a integridade do sinal em níveis de femtoamp, essas matrizes de comutação permitem a comutação perfeita entre vários dispositivos ou nós de teste sem comprometer a precisão da medição. Com configurações flexíveis, formatos compactos e fácil integração com os analisadores da Keysight, elas são ideais para testes paramétricos, estudos de confiabilidade e caracterização em nível de wafer. Precisa de ajuda para selecionar? Confira os recursos abaixo.
Explore os testes de pulso duplo de alta tensão
A validação de dispositivos de potência de última geração requer ferramentas que ofereçam comutação rápida, temporização precisa e segurança robusta em condições extremas. O analisador/tracer de curvas de dispositivos de potência da Keysight foi desenvolvido especificamente para a caracterização dinâmica de transistores SiC e GaN, permitindo a medição precisa da perda de comutação, resistência dinâmica e efeitos parasitários. Com controle totalmente integrado, recursos de proteção embutidos e recursos de alta tensão, ele ajuda os engenheiros a replicar condições de estresse do mundo real e acelerar o desenvolvimento de conversores de potência, com segurança e confiabilidade.
Encontre software e acessórios compatíveis para sua solução de teste de semicondutores
Escolha entre uma ampla variedade de softwares de teste, controle e específicos para aplicações ou acessórios, como cabos de baixo vazamento, conectores triaxiais, extensores de switch blindados, interfaces de sonda de wafer e muito mais.
Explore os casos de uso de semicondutores
As soluções de semicondutores oferecem suporte a uma ampla gama de aplicações em vários setores. Descubra todas elas.
Semicondutores
Caracterização de semicondutores WBG com teste de pulso duplo.
Semicondutores
Caracterização de módulos de potência semicondutores WBG utilizando tecnologia de sonda com isolamento de pulso verdadeiro.
Semicondutores
Caracterização de circuitos integrados de baixa potência com uma unidade de medição de fonte.
Semicondutores
Avaliação das características do LED IV usando uma unidade de fonte/medição.
Semicondutores
Eliminando elementos que induzem erros durante as medições de resistência.
Serviços e suporte
Inove rapidamente com planos de suporte personalizados e tempos de resposta e resolução priorizados.
Obtenha assinaturas previsíveis baseadas em locação e soluções completas de gerenciamento do ciclo de vida para atingir suas metas de negócios mais rapidamente.
Experimente um serviço diferenciado como assinante do KeysightCare para obter respostas técnicas comprometidas e muito mais.
Garanta que seu sistema de teste funcione de acordo com as especificações e atenda às normas locais e globais.
Faça medições rapidamente com treinamento interno ministrado por instrutor e eLearning.
Faça o download do software Keysight ou atualize seu software para a versão mais recente.
Perguntas frequentes
Os testes de semicondutores abrangem uma ampla gama de dispositivos, cada um com seus próprios requisitos específicos. Isso inclui componentes básicos, como transistores — por exemplo, transistores de efeito de campo de semicondutor de óxido metálico (MOSFETs) e transistores bipolares de porta isolada (IGBTs) —, bem como diodos, retificadores e dispositivos de potência usados na conversão de energia. Os circuitos integrados (ICs), incluindo variantes analógicas e digitais, também exigem caracterização elétrica precisa para garantir desempenho e confiabilidade. Além disso, os sensores (como sensores de temperatura, pressão e ópticos) requerem configurações de teste especializadas devido à sua sensibilidade e requisitos específicos da aplicação.
Com o surgimento de materiais avançados, semicondutores de banda larga, como carboneto de silício (SiC) e nitreto de gálio (GaN), tornaram-se cada vez mais importantes em aplicações de alta potência e alta frequência, exigindo abordagens de teste mais sofisticadas. Cada uma dessas categorias de dispositivos tem comportamentos elétricos e físicos únicos. Por exemplo, correntes de fuga em níveis de nanoamp ou picoamp, mudanças de capacitância com a tensão ou características de ruptura de alta tensão. Soluções especializadas de teste e medição são, portanto, essenciais para capturar com precisão o comportamento de corrente-tensão (I-V), capacitância, fuga, dinâmica de comutação e confiabilidade em uma ampla gama de condições ambientais e operacionais.
Muitos dispositivos semicondutores, particularmente aqueles usados em aplicações de baixa potência, precisão ou de última geração, operam em níveis de corrente extremamente baixos, às vezes na faixa de femtoampere (fA) ou picoampere (pA). Em tais escalas, mesmo quantidades mínimas de corrente de fuga ou interferência elétrica dispersa do próprio sistema de teste podem distorcer os resultados, levando a uma caracterização imprecisa. As matrizes de comutação de baixo vazamento são projetadas para minimizar correntes indesejadas que poderiam mascarar o comportamento real do dispositivo em teste, enquanto os caminhos de medição de alto isolamento evitam a interferência ou o acoplamento de ruído entre os sinais. Esses recursos são especialmente importantes para caracterizar dispositivos sensíveis, como sensores, para testar materiais avançados de banda larga (SiC, GaN) ou para realizar testes de confiabilidade e estresse de longo prazo, nos quais medições estáveis e repetíveis são essenciais. Sem o desempenho de baixo vazamento e alto isolamento, os engenheiros correm o risco de tirar conclusões incorretas sobre as propriedades do dispositivo, afetando potencialmente a qualidade do projeto, a segurança e a conformidade com os padrões de aplicação.
A caracterização de dispositivos semicondutores normalmente envolve uma série de técnicas de medição complementares, cada uma delas voltada para parâmetros elétricos ou físicos específicos. As medições de corrente-tensão (I-V) formam a base, fornecendo informações sobre condução, tensões de limiar, comportamento de fuga e características de ruptura em uma ampla faixa de tensão. As medições de capacitância-tensão (C-V) são igualmente importantes, oferecendo dados sobre perfis de concentração de dopagem, qualidade do óxido e propriedades de junção. As medições pulsadas são frequentemente empregadas para dispositivos de alta potência ou sensíveis ao calor, pois fornecem pequenas descargas de energia para evitar a degradação do dispositivo, ao mesmo tempo em que capturam o comportamento dinâmico.
Técnicas de teste de estresse de confiabilidade, como vida útil em alta temperatura (HTOL), ciclagem térmica e avaliações de instabilidade de temperatura de polarização (BTI), são usadas para simular a operação de longo prazo e identificar possíveis mecanismos de degradação do desempenho. Em alguns casos, métodos avançados como análise de resposta transitória, ruptura dielétrica dependente do tempo (TDDB) ou caracterização de radiofrequência (RF) também são necessários, dependendo da aplicação alvo. Juntas, essas técnicas fornecem uma compreensão abrangente do desempenho, robustez e adequação de um semicondutor para implantação.
A automação é um pilar fundamental dos testes modernos de semicondutores, especialmente em ambientes de fabricação de alto volume ou laboratórios de pesquisa que lidam com a caracterização complexa de vários dispositivos. Ao aproveitar estações de sonda automatizadas, manipuladores robóticos e sequenciamento de testes orientado por software, as organizações podem aumentar significativamente a produtividade, reduzir erros do operador e garantir a repetibilidade consistente das medições em grandes conjuntos de dados.
A automação também oferece recursos avançados, como testes automáticos de wafers, nos quais centenas ou milhares de dispositivos podem ser testados durante a noite, bem como testes automatizados em lote para dispositivos embalados. Nos testes de confiabilidade, a automação permite o monitoramento contínuo e de longo prazo do estresse sem intervenção humana, garantindo a detecção precoce de variações no desempenho. Além disso, os sistemas automatizados facilitam a integração e a análise de dados, permitindo que os engenheiros identifiquem rapidamente tendências, melhorem os modelos dos dispositivos e acelerem os ciclos de desenvolvimento de produtos. Em resumo, a automação não apenas aumenta a eficiência e a produtividade, mas também garante o controle de qualidade e a conformidade com rigorosos padrões da indústria em grande escala.
A indústria de semicondutores é caracterizada por uma rápida inovação, impulsionada por novos materiais, arquiteturas avançadas de dispositivos e requisitos emergentes de aplicação. Para se manterem eficazes, os sistemas de teste devem ser flexíveis e escaláveis. As plataformas modulares permitem que os engenheiros expandam a capacidade de comutação, adicionem novos módulos de medição ou integrem metodologias de teste emergentes sem a necessidade de substituição completa do sistema.
Por exemplo, à medida que semicondutores de banda larga, como carboneto de silício (SiC) e nitreto de gálio (GaN), se tornam mais comuns em veículos elétricos e sistemas de energia renovável, os sistemas de teste devem incorporar recursos para lidar com tensões mais altas, comutação mais rápida e condições térmicas mais exigentes. Da mesma forma, para dispositivos de comunicação e computação de última geração, a análise transitória de alta velocidade e os testes de radiofrequência (RF) são cada vez mais essenciais.
A adaptabilidade também se estende ao software. Os sistemas de teste modernos devem oferecer suporte a padrões, formatos de dados e estruturas de automação em constante evolução para garantir uma integração perfeita aos fluxos de trabalho de desenvolvimento. Ao manter a escalabilidade e a capacidade de atualização, os sistemas de teste de semicondutores protegem o valor do investimento e acompanham a evolução contínua dos dispositivos e aplicativos.