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Plataforma modular de prototipagem para semicondutores de alta velocidade
A Arquitetura Universal de Processamento de Sinais (USPA) da Keysight oferece um ambiente em tempo real de alto desempenho, modular e totalmente programável para prototipagem e validação ultrarrápidas específicas para cada aplicação. Construída em torno dos conversores de dados ADC3 e DAC3 líderes do setor e do processamento de sinais digitais baseado em FPGA, a plataforma USPA permite que os engenheiros iterem e verifiquem projetos rapidamente, reduzindo riscos, tempo de desenvolvimento e custos. Ela oferece suporte a aplicações que abrangem prototipagem de SoC/ASIC, 6G, comunicações ópticas, radar e pesquisa física avançada. Solicite hoje mesmo uma cotação para uma de nossas configurações populares.Precisa de ajuda para selecionar? Confira os recursos abaixo.
Movimentação de dados em alta velocidade
Capture e gere sinais em tempo real com uma plataforma criada para lidar com as aplicações mais exigentes da atualidade.
Processamento de sinal em tempo real
Acelere o desenvolvimento com ferramentas de processamento e software habilitadas para FPGA que facilitam a implementação e a iteração.
Design modular e escalável
Adapte seu sistema à medida que os projetos evoluem — escolha uma configuração pronta para uso ou configure uma personalizada de acordo com suas necessidades específicas.
Ampla cobertura de aplicação
De sistemas ópticos e sem fio de última geração a radares e pesquisas avançadas, uma única plataforma oferece suporte a diversos desafios de prototipagem.
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Type
Pre-configured, Configurable
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Motherboard
2 FPGA slots, 1 or 2 FPGA slots
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FPGA
Xilinx VU9P FPGAs, XCVU9P|XCVU13P|XCVU37P
Configurações mais populares
Arquitetura Universal de Processamento de Sinais – Sistema Pré-configurado
Arquitetura Universal de Processamento de Sinais – Sistema Configurável
Serviços e suporte
Inove rapidamente com planos de suporte personalizados e tempos de resposta e resolução priorizados.
Obtenha assinaturas previsíveis baseadas em locação e soluções completas de gerenciamento do ciclo de vida para atingir suas metas de negócios mais rapidamente.
Experimente um serviço diferenciado como assinante do KeysightCare para obter respostas técnicas comprometidas e muito mais.
Garanta que seu sistema de teste funcione de acordo com as especificações e atenda às normas locais e globais.
Faça medições rapidamente com treinamento interno ministrado por instrutor e eLearning.
Faça o download do software Keysight ou atualize seu software para a versão mais recente.
Perguntas frequentes
O controle sincronizado é essencial ao caracterizar dispositivos que apresentam comportamento dependente do tempo, características de comutação rápida ou são sensíveis ao autoaquecimento. Muitos fenômenos semicondutores, como aprisionamento de carga, vazamento transitório ou resistência dinâmica, manifestam-se em escalas de tempo de microssegundos a nanossegundos. Sem um alinhamento preciso entre as unidades de fonte e medição, esses efeitos podem ser representados de forma incorreta ou completamente ignorados.
A USPA resolve isso fornecendo um mecanismo de temporização determinístico que aciona simultaneamente todos os canais de medição e formas de onda de estímulo com resolução inferior a 10 ns. Isso garante uma correlação precisa entre os sinais aplicados e a resposta observada do dispositivo. Por exemplo, na caracterização de um GaN HEMT, os pulsos de porta e dreno devem ser alinhados com precisão para medir o tempo de subida, o overshoot e a recuperação reversa. As plataformas USPA também reduzem a latência e o jitter do software, produzindo resultados repetíveis e confiáveis, mesmo em cenários de teste complexos.
As plataformas de prototipagem são projetadas para oferecer flexibilidade e expansibilidade, permitindo que os engenheiros configurem sistemas com base em necessidades específicas de teste. Módulos como SMUs, geradores de forma de onda (WGFMUs), unidades de medição de capacitância (CMUs) e controladores de comutação podem ser adicionados ou removidos, dependendo da aplicação. A plataforma de prototipagem atua como espinha dorsal da sincronização, coordenando o controle, os disparadores e o tempo entre os instrumentos por meio de um barramento central e um conjunto de comandos. Essa abordagem permite:
- Ambientes de teste escaláveis, desde configurações de bancada com um único dispositivo até grandes estações de sondagem automatizadas em nível de wafer.
- Capacidade de medição entre domínios, como combinar medições IV, CV e de pulso em um único fluxo de teste.
- Projetos de sistemas atualizáveis, nos quais os requisitos de testes futuros podem ser atendidos com a adição de módulos ou o aumento do número de canais, sem a necessidade de reformular a configuração existente.
Essa modularidade é particularmente valiosa em fluxos de trabalho de pesquisa ou produção em evolução, oferecendo suporte a tudo, desde modelagem de transistores até validação de dispositivos de energia e caracterização de materiais.
Os sistemas baseados em arquitetura de processamento de sinais se destacam em aplicações que exigem coordenação de medições precisas, de alta velocidade ou multidomínio. As principais áreas de aplicação incluem:
- Teste IV/CV pulsado: essencial para caracterizar dispositivos como FETs GaN, MOSFETs SiC ou transistores CMOS em condições não estacionárias.
- Caracterização da resposta transitória: Análise do comportamento de comutação, recuperação do diodo e injeção de carga durante transições rápidas de sinal.
- Instabilidade de temperatura de polarização (BTI) e ruptura dielétrica dependente do tempo (TDDB): Testes de longa duração que aplicam tensão com leituras pulsadas intermitentes para monitorar a degradação.
- Estudos de física de materiais e dispositivos: Investigação do transporte de portadores resolvido no tempo, transientes de capacitância e comportamento dependente da frequência em materiais emergentes.
- Confiabilidade e testes de estresse: Execução de sequências automatizadas com tensão, corrente e larguras de pulso rigidamente controladas para simular ambientes operacionais.
A natureza determinística deles os torna ideais para capturar comportamentos sutis que, de outra forma, seriam mascarados pela instabilidade da medição ou pelo controle assíncrono do teste.