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- ソリューション
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設計および検証の意思決定を加速するための、信頼性の高いアプリケーションノート、データシート、リファレンスデザイン、テスト手順。
おすすめ - 購入
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お持ちの製品をサポートするための追加情報
- 概要
- すべてのモデル
- アクセサリ
- ソフトウェア
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高速半導体向けモジュラープロトタイピングプラットフォーム
キーサイトのユニバーサル信号処理アーキテクチャ (USPA) は、超高速のアプリケーション固有のプロトタイピングと検証のために、高性能、モジュラー型、完全にプログラム可能なリアルタイム環境を提供します。業界をリードするADC3およびDAC3データコンバーターとFPGAベースのデジタル信号処理を中心に構築されたUSPAプラットフォームは、エンジニアが設計を迅速に反復および検証することを可能にし、リスク、開発時間、コストを削減します。SoC/ASICプロトタイピング、6G、光通信、レーダー、高度な物理学研究にわたるアプリケーションをサポートします。今すぐ人気のある構成のいずれかの見積もりをリクエストしてください。 選定でお困りですか？以下のリソースをご確認ください。
高速データ移動
今日の最も要求の厳しいアプリケーションを処理するために構築されたプラットフォームで、リアルタイムで信号を捕捉および生成します。
リアルタイム信号処理
実装と反復を容易にするFPGA対応の処理とソフトウェアツールにより、開発を加速します。
モジュラーで拡張性の高い設計
プロジェクトの進化に合わせてシステムを適応させます。すぐに使えるセットアップを選択するか、独自のニーズに合わせて構成してください。
幅広いアプリケーションカバレッジ
次世代ワイヤレスおよび光システムからレーダー、高度な研究まで、1つのプラットフォームが多様なプロトタイピングの課題をサポートします。
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タイプ
Pre-configured, Configurable
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Motherboard
2 FPGA slots, 1 or 2 FPGA slots
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FPGA
Xilinx VU9P FPGAs, XCVU9P|XCVU13P|XCVU37P
人気の構成
- パラメトリック測定ハンドブック
- インピーダンス測定ハンドブック
サービスとサポート
厳選されたサポートプランと、優先的な対応および迅速なターンアラウンドタイムにより、迅速なイノベーションを実現します。
予測可能なリースベースのサブスクリプションとフルライフサイクル管理ソリューションにより、ビジネス目標をより迅速に達成できます。
KeysightCareのサブスクライバーとして、コミットされた技術サポートなど、より質の高いサービスをご体験ください。
テストシステムが仕様どおりに動作し、ローカルおよびグローバルな標準に準拠していることを保証します。
社内での講師主導トレーニングやeラーニングにより、迅速に測定を実施できます。
キーサイトのソフトウェアをダウンロードするか、最新バージョンにアップデートしてください。
よくあるご質問
時間依存の挙動、高速スイッチング特性を示すデバイス、または自己発熱に敏感なデバイスを特性評価する際には、同期制御が不可欠です。電荷トラッピング、過渡リーク、動的オン抵抗など、多くの半導体現象はマイクロ秒からナノ秒のタイムスケールで現れます。ソースと測定ユニット間の厳密なタイミングアライメントがなければ、これらの影響は誤って表現されたり、完全に検出されなかったりする可能性があります。
USPAは、すべての測定チャネルと刺激波形を10 ns未満の分解能で同時にトリガする決定論的なタイミングエンジンを提供することで、この問題を解決します。これにより、印加された信号と観測されたデバイス応答との間の正確な相関が保証されます。例えば、GaN HEMTの特性評価では、立ち上がり時間、オーバーシュート、逆回復を測定するために、ゲートおよびドレインパルスを正確にアラインする必要があります。USPAプラットフォームは、ソフトウェアのレイテンシとジッタも低減し、複雑なテストシナリオでも再現性のある信頼性の高い結果をもたらします。
プロトタイピングプラットフォームは、柔軟性と拡張性を考慮して設計されており、エンジニアは特定のテストニーズに基づいてシステムを構成できます。SMU、波形発生器（WGFMU）、容量測定ユニット（CMU）、スイッチコントローラなどのモジュールは、アプリケーションに応じて追加または削除できます。プロトタイピングプラットフォームは、中央バスとコマンドセットを介して、機器間の制御、トリガ、タイミングを調整する同期バックボーンとして機能します。このアプローチにより、以下のことが可能になります。
- シングルデバイスのベンチセットアップから、大規模な自動ウェハーレベルプロービングステーションまで、拡張可能なテスト環境。
- IV、CV、パルス測定を単一のテストフローで組み合わせるなど、クロスドメイン測定が可能です。
- アップグレード可能なシステム設計により、既存のセットアップを大幅に変更することなく、モジュールを追加したり、チャネル数を増やしたりすることで、将来のテスト要件を満たすことができます。
このモジュール性は、進化する研究または生産ワークフローにおいて特に価値があり、トランジスタモデリングからパワーデバイス検証、材料特性評価まであらゆるものをサポートします。
信号処理アーキテクチャベースのシステムは、高精度、高速、またはマルチドメイン測定の連携を必要とするアプリケーションで優れた性能を発揮します。主なアプリケーション分野は以下の通りです。
- パルスIV/CVテスト：GaN FET、SiC MOSFET、CMOSトランジスタなどのデバイスを非定常状態で特性評価するために不可欠です。
- 過渡応答特性評価：高速信号遷移時のスイッチング動作、ダイオードリカバリ、電荷注入の解析。
- バイアス温度不安定性（BTI）および時間依存性絶縁破壊（TDDB）： 劣化を監視するために、間欠的なパルス読み出しを伴う電圧ストレスを印加する長時間のテスト。
- 材料およびデバイス物理学研究：新興材料における時間分解キャリア輸送、容量過渡現象、および周波数依存性挙動の調査。
- 信頼性およびストレス試験：動作環境をシミュレートするために、厳密に制御された電圧、電流、およびパルス幅で自動シーケンスを実行します。
それらの決定論的な性質は、測定ジッタや非同期テスト制御によって隠されてしまうような微妙な挙動を捉えるのに理想的です。