- 概述
- 所有型號
- 支援
模組化高速半導體原型設計平台
Keysight 通用訊號處理架構 (USPA) 提供高效能、模組化、完全可編程的即時環境，用於超快速的特定應用原型設計和驗證。USPA 平台以業界領先的 ADC3 和 DAC3 資料轉換器以及基於 FPGA 的數位訊號處理為核心，使工程師能夠快速迭代和驗證設計，從而降低風險、開發時間和成本。它支援的應用範圍涵蓋 SoC/ASIC 原型設計、6G、光通訊、雷達和先進物理研究。立即索取我們熱門配置的報價。 需要協助選擇嗎？請參閱下方資源。
高速資料傳輸
透過專為處理當今要求最嚴苛應用而建構的平台，即時擷取和產生訊號。
即時訊號處理
運用支援 FPGA 的處理和軟體工具，加速開發，輕鬆完成實作和反覆運算。
模組化且可擴充的設計
隨著專案的演進調整您的系統 — 選擇即用型設定，或配置一個符合您獨特需求的系統。
廣泛的應用涵蓋範圍
從下一代無線和光學系統到雷達和進階研究，一個平台即可支援各種原型設計挑戰。
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類型
Pre-configured, Configurable
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Motherboard
2 FPGA slots, 1 or 2 FPGA slots
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FPGA
Xilinx VU9P FPGAs, XCVU9P|XCVU13P|XCVU37P
最熱門配置
通用訊號處理架構 – 預配置系統
通用訊號處理架構 – 可配置系統
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
對於特性分析呈現時間相關行為、快速切換特性或對自熱敏感的裝置而言，同步控制至關重要。許多半導體現象，例如電荷陷阱、瞬態洩漏或動態導通電阻，會在微秒到奈秒的時間尺度上顯現。若源端和量測單元之間沒有嚴格的時序對準，這些效應可能會被誤解或完全遺漏。
USPA 透過提供確定性時序引擎來解決此問題，該引擎能以小於 10 奈秒的解析度同步觸發所有量測通道和激勵波形。這可確保施加的訊號與觀察到的元件響應之間精確關聯。例如，在對 GaN HEMT 進行特性分析時，閘極和汲極脈衝必須精確對齊，以量測上升時間、過衝和反向恢復。USPA 平台還可減少軟體延遲和抖動，即使在複雜的測試情境下，也能產生可重複且可靠的結果。
原型平台專為彈性和可擴充性而設計，讓工程師能根據特定的測試需求配置系統。SMU、波形產生器 (WGFMU)、電容測量單元 (CMU) 和開關控制器等模組可根據應用需求新增或移除。原型平台可作為同步骨幹，透過中央匯流排和指令集協調儀器之間的控制、觸發和時序。這種方法可實現：
- 可擴充的測試環境，從單一裝置的桌上型設定到大型自動化晶圓級探測站。
- 跨領域量測能力，例如在單一測試流程中結合 IV、CV 和脈衝量測。
- 可升級的系統設計，未來的測試需求可透過增加模組或通道數量來滿足，而無需徹底改造現有設定。
這種模組化在不斷發展的研發或生產工作流程中特別有價值，支援從電晶體建模到功率元件驗證和材料特性分析的一切。
基於訊號處理架構的系統在需要精確、高速或多領域量測協調的應用中表現出色。主要應用領域包括：
- 脈衝 IV/CV 測試：對於在非穩態條件下特性化 GaN FET、SiC MOSFET 或 CMOS 電晶體等元件至關重要。
- 暫態響應特性分析：分析快速訊號轉換期間的開關行為、二極體恢復和電荷注入。
- 偏壓溫度不穩定性 (BTI) 和時變介電崩潰 (TDDB)： 長時間測試，施加電壓應力並間歇性脈衝讀數以監測劣化情況。
- 材料與元件物理研究：研究新興材料中的時間解析載子傳輸、電容瞬變和頻率相關行為。
- 可靠性和壓力測試： 執行自動化序列，嚴格控制電壓、電流和脈衝寬度，以模擬操作環境。
它們的確定性特質使其成為捕捉細微行為的理想選擇，否則這些行為將被量測抖動或非同步測試控制所掩蓋。