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Modulare Prototyping-Plattform für Hochgeschwindigkeitshalbleiter
Die Keysight Universal Signal Processing Architecture (USPA) bietet eine hochleistungsfähige, modulare, vollständig programmierbare Echtzeitumgebung für ultraschnelles anwendungsspezifisches Prototyping und Validierung. Basierend auf branchenführenden ADC3- und DAC3-Datenwandlern und FPGA-basierter digitaler Signalverarbeitung ermöglicht die USPA-Plattform Ingenieuren, Designs schnell zu iterieren und zu verifizieren – wodurch Risiken, Entwicklungszeit und Kosten reduziert werden. Sie unterstützt Anwendungen wie SoC/ASIC-Prototyping, 6G, optische Kommunikation, Radar und fortgeschrittene physikalische Forschung. Fordern Sie noch heute ein Angebot für eine unserer beliebten Konfigurationen an. Benötigen Sie Hilfe bei der Auswahl? Sehen Sie sich die untenstehenden Ressourcen an.
Hochgeschwindigkeits-Datenübertragung
Signale in Echtzeit erfassen und generieren mit einer Plattform, die für die anspruchsvollsten Anwendungen von heute entwickelt wurde.
Echtzeit-Signalverarbeitung
Beschleunigen Sie die Entwicklung mit FPGA-fähiger Verarbeitung und Software-Tools, die die Implementierung und Iteration vereinfachen.
Modulares und skalierbares Design
Passen Sie Ihr System an die Weiterentwicklung Ihrer Projekte an – wählen Sie eine sofort einsatzbereite Lösung oder konfigurieren Sie eine, die auf Ihre individuellen Bedürfnisse zugeschnitten ist.
Breites Anwendungsspektrum
Von drahtlosen und optischen Systemen der nächsten Generation bis hin zu Radar und fortgeschrittener Forschung – eine einzige Plattform unterstützt vielfältige Prototyping-Herausforderungen.
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Type
Pre-configured, Configurable
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Motherboard
2 FPGA slots, 1 or 2 FPGA slots
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FPGA
Xilinx VU9P FPGAs, XCVU9P|XCVU13P|XCVU37P
Beliebteste Konfigurationen
- Das Handbuch der parametrischen Messung
- Handbuch Impedanzmessung
Dienstleistungen und Support
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
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Häufig gestellte Fragen
Eine synchronisierte Steuerung ist unerlässlich für die Charakterisierung von Bauelementen mit zeitabhängigem Verhalten, schnellen Schaltcharakteristiken oder Empfindlichkeit gegenüber Eigenerwärmung. Viele Halbleiterphänomene, wie Ladungsspeicherung, transiente Leckströme oder dynamischer Einschaltwiderstand, treten im Mikro- bis Nanosekundenbereich auf. Ohne präzise zeitliche Abstimmung zwischen Mess- und Eingangseinheit können diese Effekte falsch dargestellt oder vollständig übersehen werden.
USPA löst dieses Problem durch eine deterministische Timing-Engine, die alle Messkanäle und Stimulus-Signalformen gleichzeitig mit einer Auflösung von unter 10 ns triggert. Dies gewährleistet eine präzise Korrelation zwischen angelegten Signalen und beobachteter Geräteantwort. Beispielsweise müssen bei der Charakterisierung eines GaN-HEMT die Gate- und Drain-Impulse exakt aufeinander abgestimmt sein, um Anstiegszeit, Überschwingen und Sperrverzögerung zu messen. USPA-Plattformen reduzieren zudem Software-Latenz und Jitter und liefern so auch unter komplexen Testszenarien reproduzierbare und zuverlässige Ergebnisse.
Prototyping-Plattformen sind flexibel und erweiterbar und ermöglichen es Ingenieuren, Systeme an spezifische Testanforderungen anzupassen. Module wie SMUs, Wellenformgeneratoren (WGFMUs), Kapazitätsmessgeräte (CMUs) und Schaltregler können je nach Anwendung hinzugefügt oder entfernt werden. Die Prototyping-Plattform dient als Synchronisations-Backbone und koordiniert Steuerung, Trigger und Timing zwischen den Messgeräten über einen zentralen Bus und einen Befehlssatz. Dieser Ansatz ermöglicht:
- Skalierbare Testumgebungen, von Einzelgeräte-Testaufbauten bis hin zu großen, automatisierten Wafer-Level-Probing-Stationen.
- Domänenübergreifende Messfähigkeit, wie z. B. die Kombination von IV-, CV- und Pulsmessungen in einem einzigen Testablauf.
- Upgradefähige Systemdesigns, bei denen zukünftige Testanforderungen durch Hinzufügen von Modulen oder Erhöhen der Kanalanzahl erfüllt werden können, ohne dass die bestehende Konfiguration grundlegend überarbeitet werden muss.
Diese Modularität ist besonders wertvoll bei der Weiterentwicklung von Forschungs- oder Produktionsabläufen und unterstützt alles von der Transistormodellierung über die Validierung von Leistungsbauelementen bis hin zur Materialcharakterisierung.
Systeme auf Basis von Signalverarbeitungsarchitekturen eignen sich hervorragend für Anwendungen, die eine präzise, schnelle oder domänenübergreifende Messkoordination erfordern. Zu den wichtigsten Anwendungsbereichen gehören:
- Pulsierende IV/CV-Testung: Essential zur Charakterisierung von Bauelementen wie GaN-FETs, SiC-MOSFETs oder CMOS-Transistoren unter nichtstationären Bedingungen.
- Charakterisierung des Einschwingverhaltens: Analyse des Schaltverhaltens, der Diodenerholung und der Ladungsinjektion bei schnellen Signalübergängen.
- Bias-Temperatur-Instabilität (BTI) und zeitabhängiger dielektrischer Durchschlag (TDDB): Langzeittests, bei denen eine Spannungsbelastung mit intermittierenden gepulsten Auslesungen zur Überwachung der Degradation angewendet wird.
- Material- und Bauelementephysik: Untersuchung des zeitaufgelösten Ladungstransports, der Kapazitätstransienten und des frequenzabhängigen Verhaltens in neuartigen Materialien.
- Zuverlässigkeits- und Belastungstests: Durchführung automatisierter Sequenzen mit genau kontrollierter Spannung, Stromstärke und Impulsbreite zur Simulation von Betriebsbedingungen.
Aufgrund ihrer deterministischen Natur eignen sie sich ideal zur Erfassung subtiler Verhaltensweisen, die sonst durch Messjitter oder asynchrone Teststeuerung verdeckt würden.