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Caracterização completa e abrangente de dispositivos semicondutores
Os analisadores de parâmetros da Keysight fornecem caracterização abrangente de dispositivos semicondutores em uma única plataforma integrada. Combinando testes precisos de corrente-tensão (IV) e capacitância-tensão (CV), medições pulsadas e testes de confiabilidade, esses sistemas modulares suportam uma ampla gama de dispositivos, desde materiais avançados até componentes de alta potência. Com precisão de medição líder do setor, opções de configuração flexíveis e controle de software intuitivo, os analisadores de parâmetros da Keysight ajudam a acelerar a pesquisa, o desenvolvimento e a qualificação de dispositivos. Solicite uma cotação ou encomende uma de nossas configurações populares hoje mesmo.Precisa de ajuda para selecionar? Confira os recursos abaixo.
Design modular flexível
Configure seu analisador com até 10 módulos intercambiáveis para atender a uma ampla gama de necessidades de teste, incluindo SMUs, medidores CV, geradores de forma de onda e matrizes de comutação.
Medições de gama completa
Caracterize com precisão dispositivos desde vazamentos sub-femtoamp até comutação de energia de quilovolts, oferecendo suporte a tudo, desde pesquisas de baixa potência até testes avançados de semicondutores de potência.
Escalabilidade preparada para o futuro
Atualize facilmente à medida que as necessidades aumentam, adicionando módulos de maior potência, unidades de medição de pulsos ou recursos de comutação para expandir a cobertura de teste sem substituir o sistema.
Software de teste integrado
Simplifique a configuração e a análise de testes com uma interface gráfica que inclui bibliotecas de testes pré-construídas, gráficos em tempo real e ferramentas avançadas de comparação de dados.
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Maximum output current
1 A DC / 3 A pulse até 2 A DC / 40 A pulse
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Resolução Mínima de Medição de Corrente
0.1 fA até 10 fA
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Number of channels
5 até 10
Configurações mais populares
Analisador de parâmetros de dispositivos semicondutores / Sistema de caracterização de semicondutores Mainframe
Analisador de dispositivos de potência/tracador de curvas
Analisador de dispositivos de potência/identificador de curva pré-configurado (B1505A com módulos e montagem)
Serviços e suporte
Inove rapidamente com planos de suporte personalizados e tempos de resposta e resolução priorizados.
Obtenha assinaturas previsíveis baseadas em locação e soluções completas de gerenciamento do ciclo de vida para atingir suas metas de negócios mais rapidamente.
Experimente um serviço diferenciado como assinante do KeysightCare para obter respostas técnicas comprometidas e muito mais.
Garanta que seu sistema de teste funcione de acordo com as especificações e atenda às normas locais e globais.
Faça medições rapidamente com treinamento interno ministrado por instrutor e eLearning.
Faça o download do software Keysight ou atualize seu software para a versão mais recente.
Perguntas frequentes
Um analisador de parâmetros é um sistema de teste integrado e modular que consolida várias funções de medição de semicondutores, incluindo corrente-tensão (IV), capacitância-tensão (CV), pulso e comutação, em um único chassi. Ao contrário das SMUs autônomas ou configurações de instrumentos fragmentadas, os analisadores de parâmetros oferecem medições multissetoriais altamente sincronizadas com software integrado de temporização, automação e análise. Eles são otimizados para a caracterização de dispositivos semicondutores, oferecendo recursos de fonte/medição de alta resolução, de femtoamperes a quilovolts e amperes, tudo dentro de uma arquitetura de teste flexível. Sua principal vantagem reside na coerência em nível de sistema, facilidade de configuração e escalabilidade, permitindo um desenvolvimento de teste mais rápido, temporização consistente entre instrumentos e medição contínua de estruturas de dispositivos básicas e complexas, sem sincronização externa ou integração manual.
Os analisadores de parâmetros são amplamente utilizados em P&D, modelagem e testes de confiabilidade de dispositivos semicondutores em uma variedade de tecnologias. Eles são ideais para caracterizar dispositivos discretos (por exemplo, diodos, MOSFETs, BJTs), transistores avançados (por exemplo, FinFETs, HEMTs), componentes de potência (por exemplo, IGBTs, SiC/GaN FETs) e novos materiais, como semicondutores orgânicos, camadas 2D ou células de memória resistivas. Devido à sua faixa de medição ultra ampla, os analisadores de parâmetros são adequados para tudo, desde a medição de correntes de fuga ultrabaixas em dielétricos de porta até a avaliação das características de ruptura de dispositivos de alta tensão sob polarização pulsada ou contínua. Eles também são eficazes para testes em nível de circuito, extração de parâmetros de modelagem (por exemplo, Id-Vg, Id-Vd, gm, Ron) e estudos de robustez contra descargas eletrostáticas (ESD). Laboratórios acadêmicos, fundições de semicondutores e fabricantes de dispositivos confiam neles para garantir uma validação abrangente ao longo do ciclo de vida do projeto até a produção.
Os analisadores de parâmetros suportam até dez módulos de medição que os usuários podem configurar com base em sua aplicação específica. Esses módulos podem incluir SMUs de precisão, SMUs de alta tensão ou alta corrente, unidades de medição de capacitância (CMUs), módulos de pulso rápido (WGFMUs), matrizes de comutação e muito mais. Essa modularidade permite que os usuários personalizem o sistema para dispositivos multiterminais, combinem testes IV e CV em uma única varredura ou executem sequências automatizadas envolvendo tensão, variação de temperatura ou testes de ruptura dependentes do tempo. Os módulos podem ser adicionados, atualizados ou substituídos sem a necessidade de revisão de todo o sistema, tornando-o preparado para o futuro e adaptável a novos tipos de dispositivos ou metodologias. Esse design também oferece suporte a acionamento sincronizado, controle em tempo real e roteamento interno que reduz a complexidade da fiação e minimiza erros parasíticos.
Os analisadores de parâmetros oferecem uma variedade de técnicas avançadas de caracterização elétrica, totalmente integradas em um único ambiente de teste. Entre elas estão:
- Medições IV e CV quase estáticas: para estudos de tensão de limiar, oscilação sublimiar, relação de corrente ligada/desligada, fuga de porta, capacitância de junção e efeito de corpo.
- Teste IV pulsado: minimiza os efeitos de autoaquecimento e retenção de carga para dispositivos sob alta potência ou comutação de alta velocidade.
- Perfilagem de capacitância-tensão (CV): extrai perfis de dopagem, espessura de óxido e estados de interface usando métodos CV de baixa e alta frequência.
- Testes de estresse e confiabilidade: Suporta testes como NBTI, HCI, TDDB e SILC por meio de polarização de longa duração e varreduras cronometradas com registro.
- Análise dependente da temperatura: Interfaces com mandris ou câmaras térmicas para caracterização de temperatura variável.
- Ferramentas de análise integradas: plotagem em tempo real , modelos de extração de parâmetros (por exemplo, gmmax, desvio Vth, Rds(on)), comparações de aprovação/reprovação e APIs de script (por exemplo, Python, SCPI) permitem a automação de testes repetíveis e fluxos de trabalho de análise sem software externo.
A escolha do analisador de parâmetros depende muito da tensão, corrente e precisão de medição exigidas pela aplicação. Para dispositivos de baixa potência, como ICs analógicos, CMOS avançados ou sensores, um analisador de parâmetros padrão equipado com SMUs de baixa corrente de precisão (resolução de até 0,1 fA) e CMUs é ideal. Esses sistemas oferecem a sensibilidade e a estabilidade necessárias para a análise de corrente de fuga e comportamento sublimiar. Em contrapartida, dispositivos de alta potência, como MOSFETs de potência SiC e GaN ou IGBTs, requerem analisadores que suportem fontes de até 3000 V e 1500 A. Esses analisadores incluem SMUs de potência especializadas com proteção de conformidade, medição de alta velocidade para resposta transitória e recursos de segurança para proteger tanto o operador quanto o DUT. Os engenheiros também devem considerar:
- capacidades de largura de pulso e tempo de subida para minimizar os efeitos térmicos,
- projeto de proteção e blindagem para medições de alta tensão,
- requisitos de dissipação térmica do DUT,
- integração com matrizes de comutação ou sondas de wafer, e
- teste a taxa de transferência e a interface de automação se for usado em ambientes de alto volume.