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Caracterización integral y completa de dispositivos semiconductores
Los analizadores de parámetros de Keysight proporcionan una caracterización completa de los dispositivos semiconductores en una única plataforma integrada. Estos sistemas modulares, que combinan pruebas precisas de corriente-voltaje (IV) y capacitancia-voltaje (CV), mediciones pulsadas y pruebas de fiabilidad, son compatibles con una amplia gama de dispositivos, desde materiales avanzados hasta componentes de alta potencia. Con una precisión de medición líder en el sector, opciones de configuración flexibles y un control de software intuitivo, los analizadores de parámetros de Keysight ayudan a acelerar la investigación, el desarrollo y la cualificación de los dispositivos. Solicite un presupuesto o pida hoy mismo una de nuestras populares configuraciones.¿Necesita ayuda para elegir? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Diseño modular flexible
Configure su analizador con hasta 10 módulos intercambiables para adaptarse a una amplia gama de necesidades de prueba, incluyendo SMU, medidores CV, generadores de formas de onda y matrices de conmutación.
Mediciones de rango completo
Caracteriza con precisión dispositivos desde fugas de subfemtoamperios hasta conmutación de potencia de kilovoltios, lo que permite realizar desde investigaciones sobre baja potencia hasta pruebas avanzadas de semiconductores de potencia.
Escalabilidad preparada para el futuro
Actualícelo fácilmente a medida que aumenten sus necesidades añadiendo módulos de mayor potencia, unidades de medición de impulsos o capacidades de conmutación para ampliar la cobertura de las pruebas sin necesidad de sustituir el sistema.
Software de prueba integrado
Simplifique la configuración y el análisis de pruebas con una interfaz gráfica que incluye bibliotecas de pruebas predefinidas, gráficos en tiempo real y herramientas avanzadas de comparación de datos.
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Maximum output current
1 A DC / 3 A pulse to 2 A DC / 40 A pulse
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Minimum current measurement resolution
0.1 fA to 10 fA
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Number of channels
5 to 10
Las configuraciones más populares
Analizador de parámetros de dispositivos semiconductores / Sistema de caracterización de semiconductores Mainframe
Analizador de dispositivos de potencia / Trazador de curvas
Analizador de dispositivos de potencia preconfigurado / trazador de curvas (B1505A con módulos y accesorios)
Servicios y asistencia
Innovar rápidamente con planes de asistencia personalizados y tiempos de respuesta y resolución priorizados.
Obtenga suscripciones predecibles basadas en arrendamiento y soluciones completas de gestión del ciclo de vida, para que pueda alcanzar sus objetivos empresariales más rápidamente.
Disfrute de un servicio superior como suscriptor de KeysightCare y obtenga una respuesta técnica comprometida y mucho más.
Asegúrese de que su sistema de pruebas funcione según las especificaciones y cumpla con las normas locales y globales.
Realice mediciones rápidamente con formación interna impartida por instructores y aprendizaje electrónico.
Descargue el software de Keysight o actualice su software a la versión más reciente.
Preguntas más frecuentes
Un analizador de parámetros es un sistema de prueba modular integrado que consolida múltiples funciones de medición de semiconductores, incluyendo corriente-voltaje (IV), capacitancia-voltaje (CV), pulso y conmutación, en un solo chasis. A diferencia de las SMU independientes o las configuraciones de instrumentos fragmentadas, los analizadores de parámetros ofrecen mediciones multidominio estrechamente sincronizadas con software integrado de sincronización, automatización y análisis. Están optimizados para la caracterización de dispositivos semiconductores y ofrecen capacidades de fuente/medición de alta resolución, desde femtoamperios hasta kilovoltios y amperios, todo ello dentro de una arquitectura de prueba flexible. Su principal ventaja radica en la coherencia a nivel de sistema, la facilidad de configuración y la escalabilidad, lo que permite un desarrollo más rápido de las pruebas, una sincronización coherente entre los instrumentos y una medición perfecta de estructuras de dispositivos tanto básicas como complejas sin necesidad de sincronización externa o integración manual.
Los analizadores de parámetros se utilizan ampliamente en I+D, modelización y pruebas de fiabilidad de dispositivos semiconductores en una amplia variedad de tecnologías. Son ideales para caracterizar dispositivos discretos (por ejemplo, diodos, MOSFET, BJT), transistores avanzados (por ejemplo, FinFET, HEMT), componentes de potencia (por ejemplo, IGBT, SiC/GaN FET) y materiales novedosos como semiconductores orgánicos, capas 2D o celdas de memoria resistivas. Debido a su rango de medición ultraamplio, los analizadores de parámetros son adecuados para todo, desde la medición de corrientes de fuga ultrabajas en dieléctricos de puerta hasta la evaluación de las características de ruptura de dispositivos de alta tensión bajo polarización pulsada o continua. También son eficaces para pruebas a nivel de circuito, extracción de parámetros de modelado (por ejemplo, Id-Vg, Id-Vd, gm, Ron) y estudios de robustez frente a descargas electrostáticas (ESD). Los laboratorios académicos, las fundiciones de semiconductores y los fabricantes de dispositivos confían en ellos para garantizar una validación completa a lo largo del ciclo de vida, desde el diseño hasta la producción.
Los analizadores de parámetros admiten hasta diez módulos de medición que los usuarios pueden configurar en función de su aplicación específica. Estos módulos pueden incluir SMU de precisión, SMU de alta tensión o alta corriente, unidades de medición de capacitancia (CMU), módulos de pulsos rápidos (WGFMU), matrices de conmutación y mucho más. Esta modularidad permite a los usuarios adaptar el sistema para dispositivos multiterminales, combinar pruebas IV y CV en un solo barrido o ejecutar secuencias automatizadas que impliquen estrés de tensión, variación de temperatura o pruebas de ruptura dependientes del tiempo. Los módulos se pueden añadir, actualizar o sustituir sin necesidad de revisar todo el sistema, lo que lo hace preparado para el futuro y adaptable a nuevos tipos de dispositivos o metodologías. Este diseño también admite el disparo sincronizado, el control en tiempo real y el enrutamiento interno, lo que reduce la complejidad del cableado y minimiza los errores parásitos.
Los analizadores de parámetros ofrecen una variedad de técnicas avanzadas de caracterización eléctrica, estrechamente integradas en un único entorno de prueba. Entre ellas se incluyen:
- Mediciones IV y CV cuasiestáticas: para estudios de voltaje umbral, oscilación subumbral, relación de corriente de encendido/apagado, fuga de puerta, capacitancia de unión y efecto de cuerpo.
- Pruebas IV pulsadas: minimizan los efectos de autocalentamiento y captura de carga en dispositivos con alta potencia o conmutación de alta velocidad.
- Perfilado de capacitancia-voltaje (CV): extrae perfiles de dopaje, espesor de óxido y estados de interfaz utilizando métodos CV de baja y alta frecuencia.
- Pruebas de estrés y fiabilidad: admite pruebas como NBTI, HCI, TDDB y SILC mediante sesgos de larga duración y barridos temporizados con registro.
- Análisis dependiente de la temperatura: Interfaces con mandriles térmicos o cámaras para la caracterización de temperaturas variables.
- Herramientas de análisis integradas: trazado en tiempo real , plantillas de extracción de parámetros (por ejemplo, gmmax, desplazamiento Vth, Rds(on)), comparaciones de aprobado/suspenso y API de scripting (por ejemplo, Python, SCPI) que permiten automatizar las pruebas y los flujos de trabajo de análisis de forma repetible sin necesidad de software externo.
La elección del analizador de parámetros depende en gran medida del voltaje, la corriente y la precisión de medición requeridos por la aplicación. Para dispositivos de baja potencia, como circuitos integrados analógicos, CMOS avanzados o sensores, lo ideal es un analizador de parámetros estándar equipado con SMU de baja corriente de precisión (con una resolución de hasta 0,1 fA) y CMU. Estos sistemas ofrecen la sensibilidad y la estabilidad necesarias para el análisis de la corriente de fuga y el comportamiento por debajo del umbral. Por el contrario, los dispositivos de alta potencia, como los MOSFET de potencia SiC y GaN o los IGBT, requieren analizadores que admitan fuentes de hasta 3000 V y 1500 A. Estos analizadores incluyen SMU de potencia especializadas con protección de cumplimiento, medición de alta velocidad para respuesta transitoria y características de seguridad para proteger tanto al operador como al DUT. Los ingenieros también deben tener en cuenta:
- capacidades de ancho de pulso y tiempo de subida para minimizar los efectos térmicos,
- diseño de protección y blindaje para mediciones de alta tensión,
- requisitos de disipación térmica del DUT,
- integración con matrices de conmutación o probadores de obleas, y
- Pruebe el rendimiento y la interfaz de automatización si se utiliza en entornos de gran volumen.