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Caratterizzazione completa e integrata dei dispositivi a semiconduttori
Gli analizzatori di parametri Keysight offrono una caratterizzazione completa dei dispositivi a semiconduttori in un'unica piattaforma integrata. Combinando test di precisione corrente-tensione (IV) e capacità-tensione (CV), misurazioni a impulsi e test di affidabilità, questi sistemi modulari supportano un'ampia gamma di dispositivi, dai materiali avanzati ai componenti ad alta potenza. Con una precisione di misurazione leader nel settore, opzioni di configurazione flessibili e un controllo software intuitivo, gli analizzatori di parametri Keysight contribuiscono ad accelerare la ricerca, lo sviluppo e la qualificazione dei dispositivi. Richiedete un preventivo o ordinate oggi stesso una delle nostre configurazioni più richieste.Avete bisogno di aiuto per la scelta? Consultate le risorse riportate di seguito.
Design modulare flessibile
Configura il tuo analizzatore con un massimo di 10 moduli intercambiabili per soddisfare un'ampia gamma di esigenze di test, tra cui SMU, misuratori CV, generatori di forme d'onda e matrici di commutazione.
Misurazioni a gamma completa
Caratterizza con precisione i dispositivi da perdite inferiori al femtoampere fino alla commutazione di potenza nell'ordine dei kilovolt, supportando ogni tipo di applicazione, dalla ricerca sulla bassa potenza ai test avanzati sui semiconduttori di potenza.
Scalabilità pronta per il futuro
Aggiornabile facilmente in base alle crescenti esigenze aggiungendo moduli di potenza superiore, unità di misurazione degli impulsi o funzionalità di commutazione per ampliare la copertura dei test senza sostituire il sistema.
Software di test integrato
Semplificate la configurazione e l'analisi dei test grazie a un'interfaccia grafica che include librerie di test predefinite, grafici in tempo reale e strumenti avanzati di confronto dei dati.
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Maximum output current
1 A DC / 3 A pulse to 2 A DC / 40 A pulse
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Minimum current measurement resolution
0.1 fA to 10 fA
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Number of channels
5 to 10
Configurazioni più popolari
Analizzatore dei parametri dei dispositivi a semiconduttori / Sistema di caratterizzazione dei semiconduttori Mainframe
Analizzatore di dispositivi di potenza / Curve Tracer
Analizzatore di dispositivi di alimentazione preconfigurato / Tracciatore di curve (B1505A con moduli e dispositivo di fissaggio)
Servizi e assistenza
Innova rapidamente grazie a piani di assistenza personalizzati e tempi di risposta e risoluzione prioritari.
Ottieni abbonamenti prevedibili basati su leasing e soluzioni complete per la gestione dell'intero ciclo di vita, in modo da raggiungere più rapidamente i tuoi obiettivi aziendali.
Beneficia di un servizio di alto livello come abbonato KeysightCare per ottenere assistenza tecnica dedicata e molto altro ancora.
Assicurati che il tuo sistema di test funzioni secondo le specifiche e soddisfi gli standard locali e globali.
Effettua misurazioni rapidamente grazie alla formazione interna con istruttore e all'e-learning.
Scarica il software Keysight o aggiorna il tuo software alla versione più recente.
Domande frequenti
Un analizzatore di parametri è un sistema di test integrato e modulare che consolida in un unico chassis diverse funzioni di misurazione dei semiconduttori, tra cui corrente-tensione (IV), capacità-tensione (CV), impulso e commutazione. A differenza delle SMU autonome o delle configurazioni strumentali frammentarie, gli analizzatori di parametri offrono misurazioni multidominio strettamente sincronizzate con software integrato di temporizzazione, automazione e analisi. Sono ottimizzati per la caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttori e offrono funzionalità di sorgente/misura ad alta risoluzione da femtoampere a kilovolt e ampere, il tutto all'interno di un'architettura di test flessibile. Il loro vantaggio principale risiede nella coerenza a livello di sistema, nella facilità di configurazione e nella scalabilità, che consentono uno sviluppo più rapido dei test, una temporizzazione coerente tra gli strumenti e una misurazione senza soluzione di continuità delle strutture dei dispositivi sia di base che complesse, senza sincronizzazione esterna o integrazione manuale.
Gli analizzatori di parametri sono ampiamente utilizzati nella ricerca e sviluppo, nella modellazione e nei test di affidabilità dei dispositivi a semiconduttori in una vasta gamma di tecnologie. Sono ideali per caratterizzare dispositivi discreti (ad esempio diodi, MOSFET, BJT), transistor avanzati (ad esempio FinFET, HEMT), componenti di potenza (ad esempio IGBT, SiC/GaN FET) e materiali innovativi come semiconduttori organici, strati 2D o celle di memoria resistive. Grazie al loro campo di misura ultra-ampio, gli analizzatori di parametri sono adatti a tutto, dalla misurazione di correnti di dispersione ultra-basse nei dielettrici di gate alla valutazione delle caratteristiche di rottura dei dispositivi ad alta tensione sotto polarizzazione pulsata o continua. Sono efficaci anche per i test a livello di circuito, l'estrazione dei parametri di modellazione (ad esempio, Id-Vg, Id-Vd, gm, Ron) e gli studi di robustezza alle scariche elettrostatiche (ESD). I laboratori accademici, le fonderie di semiconduttori e i produttori di dispositivi si affidano a loro per garantire una validazione completa durante tutto il ciclo di vita dalla progettazione alla produzione.
Gli analizzatori di parametri supportano fino a dieci moduli di misura che gli utenti possono configurare in base alla loro specifica applicazione. Questi moduli possono includere SMU di precisione, SMU ad alta tensione o alta corrente, unità di misura della capacità (CMU), moduli a impulsi rapidi (WGFMU), matrici di commutazione e altro ancora. Questa modularità consente agli utenti di personalizzare il sistema per dispositivi multiterminale, combinare test IV e CV in un'unica scansione o eseguire sequenze automatizzate che coinvolgono stress di tensione, variazioni di temperatura o test di rottura dipendenti dal tempo. I moduli possono essere aggiunti, aggiornati o sostituiti senza dover revisionare l'intero sistema, rendendolo a prova di futuro e adattabile a nuovi tipi di dispositivi o metodologie. Questo design supporta anche l'attivazione sincronizzata, il controllo in tempo reale e il routing interno che riduce la complessità del cablaggio e minimizza gli errori parassiti.
Gli analizzatori di parametri offrono una varietà di tecniche avanzate di caratterizzazione elettrica, strettamente integrate in un unico ambiente di test. Queste includono:
- Misurazioni IV e CV quasi statiche: per studi su tensione di soglia, oscillazione sub-soglia, rapporto corrente on/off, dispersione gate, capacità di giunzione ed effetto corpo.
- Test IV pulsato: riduce al minimo gli effetti di autoriscaldamento e intrappolamento di carica per dispositivi ad alta potenza o commutazione ad alta velocità.
- Profilatura capacità-tensione (CV): estrae i profili di drogaggio, lo spessore dell'ossido e gli stati di interfaccia utilizzando metodi CV a bassa e alta frequenza.
- Test di stress e affidabilità: supporta test quali NBTI, HCI, TDDB e SILC attraverso polarizzazione di lunga durata e scansioni temporizzate con registrazione.
- Analisi dipendente dalla temperatura: interfacce con mandrini termici o camere per la caratterizzazione a temperatura variabile.
- Strumenti di analisi integrati: tracciamento in tempo reale , modelli di estrazione dei parametri (ad es. gmmax, Vth shift, Rds(on)), confronti pass/fail e API di scripting (ad es. Python, SCPI) consentono l'automazione dei test ripetibili e flussi di lavoro di analisi senza software esterni.
La scelta dell'analizzatore di parametri dipende in larga misura dalla tensione, dalla corrente e dalla precisione di misurazione richieste dall'applicazione. Per i dispositivi a bassa potenza, come i circuiti integrati analogici, i CMOS avanzati o i sensori, l'ideale è un analizzatore di parametri standard dotato di SMU a bassa corrente di precisione (con risoluzione fino a 0,1 fA) e CMU. Questi sistemi offrono la sensibilità e la stabilità necessarie per l'analisi della corrente di dispersione e del comportamento sub-soglia. Al contrario, i dispositivi ad alta potenza come i MOSFET di potenza SiC e GaN o gli IGBT richiedono analizzatori che supportino sorgenti fino a 3000 V e 1500 A. Questi analizzatori includono SMU di potenza specializzate con protezione di conformità, misurazione ad alta velocità per la risposta transitoria e caratteristiche di sicurezza per proteggere sia l'operatore che il DUT. Gli ingegneri dovrebbero anche considerare:
- ampiezza dell'impulso e capacità di tempo di salita per ridurre al minimo gli effetti termici,
- Progettazione di protezioni e schermature per misurazioni ad alta tensione,
- requisiti di dissipazione termica del DUT,
- integrazione con matrici di commutazione o wafer prober, e
- testare la produttività e l'interfaccia di automazione se utilizzati in ambienti ad alto volume.