Soluzioni per semiconduttori
- Progettazione e simulazione
- Modellazione dei dispositivi
- Gestione IP
- Test sui wafer
- Test del dispositivo
Ottimizzate la progettazione e le prestazioni dei semiconduttori con soluzioni di simulazione multidominio rapide e accurate.
Progettazione e simulazione di circuiti RF
Accelerate la progettazione di circuiti RF con layout, EM e simulazione di circuito integrati.
Progettazione elettrotermica
Simulare gli effetti elettrici e termici accoppiati per ottimizzare l'affidabilità e le prestazioni dei semiconduttori.
Simulazione EM 3D
Simulare gli effetti elettromagnetici in strutture complesse di semiconduttori 3D per un'accurata validazione dei progetti.
Simulazione di RFIC e MMIC
Semplificate la progettazione di RFIC e MMIC con flussi di simulazione scalabili e certificati dalle fonderie.
Sintesi RF
Automatizzate la sintesi dei circuiti RF e a microonde per una progettazione rapida e accurata dei semiconduttori.
Test di caratterizzazione dei wafer
Semplificare le misure a livello di wafer per la valutazione dei dispositivi a semiconduttore.
Integrazione eterogenea 3D e chiplet
Modellare l'integrazione eterogenea 3D avanzata e le architetture a chiplet con piena accuratezza elettromagnetica.
Simulazione fotonica
Progettare e ottimizzare dispositivi fotonici e circuiti integrati per applicazioni a semiconduttore.
Simulazione di circuiti quantistici superconduttori
Modellare e simulare circuiti con giunzioni Josephson a quantizzazione di flusso per una progettazione accurata di circuiti quantistici superconduttori.
Automatizzare la caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttori, l'estrazione dei parametri e la convalida dei modelli per creare modelli accurati e affidabili in tempi più rapidi.
Automazione della modellazione dei dispositivi
Automatizzate la caratterizzazione dei dispositivi e la generazione di modelli compatti per i semiconduttori.
Modellazione di dispositivi al silicio
Estrarre, ottimizzare e convalidare modelli SPICE per dispositivi avanzati a semiconduttore in silicio.
QA del modello SPICE
Convalidare i modelli SPICE dei semiconduttori per garantirne l'accuratezza e la coerenza.
Ottimizzazione del modello di fotorilevatore
Ottimizzare i modelli dei fotorilevatori PIN per la fotonica su silicio sulla base dei dati misurati, al fine di ottenere una simulazione accurata dei processi di produzione.
Estrazione dei parametri del modello del dispositivo
Automatizza l'estrazione dei parametri dei modelli dei dispositivi e il ricentraggio tramite l'apprendimento automatico, per uno sviluppo dei modelli più rapido e ripetibile.
Centralizzare, tracciare e collaborare sui dati di progettazione e IP dei semiconduttori per migliorare l'efficienza e garantire l'integrità della progettazione.
Gestione dei dati di progettazione
Controllo e tracciamento dei dati di progettazione dei semiconduttori con la gestione centralizzata delle versioni.
Gestione IP
Gestite il ciclo di vita delle IP dei semiconduttori con archiviazione sicura e accesso controllato.
Gestione del design visivo
Centralizzare e tenere traccia dei dati di progettazione dei semiconduttori per migliorare la collaborazione tra i team.
Esecuzione di test su wafer ad alta produttività con controllo del movimento, fotonica e misure parametriche.
Test su wafer di fotonica al silicio
Caratterizzare i dispositivi fotonici a semiconduttore a livello di wafer con test ottici/elettrici integrati.
Test parametrici fondamentali
Misurate i parametri essenziali dei semiconduttori con soluzioni di test accurate e configurabili.
Caratterizzazione RF e sub-THz su wafer
Caratterizzare dispositivi a semiconduttori avanzati alle frequenze delle onde millimetriche e sub-THz. Eseguire misurazioni accurate dei parametri S e dei dispositivi direttamente sul wafer per convalidare le tecnologie di nuova generazione in ambito RF, 5G/6G, radar automobilistici e ad alta frequenza.
Caratterizzazione elettro-ottica della fotonica al silicio
Accelerare lo sviluppo della fotonica su silicio grazie a una caratterizzazione elettro-ottica accurata. Misurare le prestazioni ottiche ed elettriche, compresi i parametri S elettro-ottici, per convalidare dispositivi e componenti fotonici ad alta velocità.
Test parametrico parallelo
Aumentate la produttività dei test sui semiconduttori con misure parametriche parallele.
Controllo del movimento
Consente il controllo del movimento di precisione per l'ispezione dei wafer e l'allineamento dei test dei dispositivi a semiconduttori.
Garantite precisione, affidabilità e funzionamento ad alta velocità per ogni progetto, dalle misure di base alla funzionalità a livello di sistema.
Test a doppio impulso
Caratterizzare i dispositivi dinamici a semiconduttore di potenza con test a doppio impulso.
Test parametrico
Fornisce precisione per soddisfare i test parametrici/di affidabilità e caratterizzazione dei semiconduttori.
Analisi del rumore a bassa frequenza
Analizzate il rumore a bassa frequenza e valutate l'affidabilità dei semiconduttori con software che si integra con PathWave WaferPro.
Caratterizzazione dei dispositivi di memoria non volatile
Caratterizzare i dispositivi di memoria non volatile di nuova generazione mediante misurazioni precise della corrente-tensione e dei transitori.
Analisi della memoria
Analizzare le prestazioni e i tempi della memoria DDR5 a semiconduttori mediante analisi logica.
Convalida PCI Express® e CXL
Verifica dei progetti di semiconduttori PCIe e CXL, dal livello fisico al protocollo.
Accelerare la validazione dei circuiti integrati RF e mmWave, dalla fase di produzione dei wafer fino alla produzione in serie.
Test dei ricevitori SerDes ad alta velocità / PAM4
Verifica dei ricevitori SerDes ad alta velocità per velocità di trasmissione dati di nuova generazione.
Convalida MIPI® C-PHY℠ e D-PHY℠
Verifica delle interfacce MIPI per applicazioni mobili, automobilistiche e embedded ad alta velocità.
Caratterizzazione dei circuiti integrati a bassa potenza
Caratterizzare con precisione i dispositivi a semiconduttori a bassa potenza e i circuiti integrati.
Verifica dell'interfaccia USB4 / ad alta velocità
Verifica i progetti relativi all'USB4 e alle interfacce ad alta velocità, dal trasmettitore al ricevitore.
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Progettazione di base e misurazione
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Test parametrici e misurazioni su wafer
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Misurazione dei circuiti integrati fotonici
Scopri come la soluzione UU103LAB di Keysight consente alle università di formare laureati pronti per il mondo del lavoro nel campo della misurazione e del collaudo dei circuiti integrati fotonici
Formiamo oggi gli innovatori del settore dei chip di domani
Le soluzioni complete per laboratori didattici dedicati ai semiconduttori consentono agli studenti di innovare più rapidamente, immergendoli in contesti reali di progettazione, test a livello di wafer e integrazione fotonica.
Esplora i casi d'uso dei semiconduttori
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Caratterizzazione di chip di semiconduttori
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