Come eseguire i test dei circuiti integrati Beamformer 5G
Verifica del circuito integrato del beamformer in condizioni lineari e non lineari
Per garantire l'affidabilità e l'efficienza dei sistemi di comunicazione 5G a onde millimetriche (mmWave) sono necessari test rigorosi sugli elementi critici che fanno parte del circuito integrato (IC) beamformer. Gli ingegneri addetti ai test dovranno eseguire simulazioni a livello di componente e di sistema in condizioni lineari e non lineari durante il flusso di verifica della progettazione. Inoltre, i produttori di componenti 5G hanno bisogno di una serie di soluzioni di test per affrontare le sfide di misura del beamforming, tra cui i parametri S, la compressione (P1dB), l'intermodulazione e la distorsione armonica, l'emissione di spurie, la figura di rumore, la grandezza del vettore di errore (EVM), il rapporto di potenza del canale adiacente (ACPR) e le misure multiport e multidirezionali.
Un analizzatore di rete vettoriale (VNA) e un software applicativo consentono agli ingegneri di testare le caratteristiche non lineari e la figura di rumore di un amplificatore in condizioni di stimolo modulato a banda larga. Gli ingegneri addetti ai test necessitano di un set di test di commutazione esterno per consentire misure multiple a connessione singola per circuiti integrati beamformer multiporta/multidirezionali. Gli ingegneri che eseguono test sui componenti 5G NR hanno bisogno di una soluzione che crei segnali 5G NR per caratterizzare le prestazioni modulate degli amplificatori di potenza.
Soluzione di test IC per beamformer 5G
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Analizzatore di rete vettoriale M9804A PXI, da 9 kHz a 20 GHz
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Analizzatore di rete a microonde N5244B PNA-X
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Generatore di segnali a microonde M9384B VXG
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Generatore di segnali vettoriali M9484C VXG
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Analizzatore di segnale UXA N9042B, da 2 Hz a 75 GHz
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