Como realizar o teste de IC do Beamformer 5G

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Verificação do CI do formador de feixe em condições lineares e não lineares

Para garantir sistemas de comunicação 5G de ondas milimétricas (mmWave) confiáveis e eficientes, é necessário realizar testes rigorosos nos elementos essenciais que fazem parte do circuito integrado (IC) do formador de feixe. Os engenheiros de teste precisarão executar simulações em nível de componente e de sistema sob condições lineares e não lineares durante o fluxo de trabalho de verificação do projeto. Além disso, os fabricantes de componentes 5G precisam de uma série de soluções de teste para enfrentar os desafios de medição de beamforming, incluindo parâmetros S, compressão (P1dB), intermodulação e distorção harmônica, emissão espúria, figura de ruído, magnitude do vetor de erro (EVM), relação de potência do canal adjacente (ACPR) e medições multiportas e multidirecionais.

Um analisador de rede vetorial (VNA) e um software aplicativo permitem que os engenheiros testem as características não lineares de um amplificador e o valor do ruído sob condições de estímulo modulado de banda larga. Os engenheiros de teste precisam de um conjunto de teste de comutação externa para permitir medições múltiplas de conexão única para ICs formadores de feixe multiportas/multidirecionais. Os engenheiros que realizam testes de componentes 5G NR precisam de uma solução que crie sinais 5G NR para caracterizar o desempenho modulado dos amplificadores de potência.

Solução de teste de IC de formador de feixe 5G

O teste do CI do formador de feixe 5G requer uma combinação de ferramentas de hardware e software. A solução de teste do CI formador de feixe 5G da Keysight inclui um analisador de rede de micro-ondas, analisador de sinal, software de aplicação de distorção de modulação, gerador de sinal vetorial de micro-ondas e software de geração de sinal. Essas ferramentas o ajudam a gerar sinais 5G NR para executar medições rápidas de S-parameter multiportas e amplificadores de potência. Você pode adicionar uma matriz de comutação modular para medições de IC de formador de feixe multiporta/multidirecional. 
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