Come automatizzare le misurazioni di potenza a livello di wafer nella fotonica al silicio
Pulizia ad alta potenza per wafer di fotonica al silicio
Il collaudo a livello di wafer dei dispositivi fotonici al silicio richiede un controllo e una verifica precisi della potenza ottica erogata a ciascun punto di test. Dispositivi quali fotorilevatori, modulatori e guide d'onda passive presentano una forte sensibilità alla potenza in ingresso, alla lunghezza d'onda e alla polarizzazione, mentre l'efficienza degli accoppiatori a reticolo, l'allineamento delle fibre e le variazioni di processo introducono una significativa variabilità da un punto all'altro su un wafer.
Per estrarre con precisione parametri quali la perdita di inserzione, la reattività, il comportamento di saturazione e le soglie di sensibilità, gli ingegneri devono controllare la lunghezza d'onda, allineare la polarizzazione ottica alla modalità della guida d'onda e verificare l'effettiva potenza ottica fornita al dispositivo in prova. I flussi di lavoro automatizzati di scansione della potenza ottica consentono di effettuare misurazioni coerenti e ripetibili su migliaia di chip in ambienti di stazioni di sondaggio dei wafer.
Soluzione per la misurazione della potenza ottica a livello di wafer nel campo della fotonica al silicio
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Misuratore di potenza ottico multiporta N7745C, 8 canali
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Sintetizzatore di polarizzazione N7786C
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Sorgente laser sintonizzabile N7776C, alta potenza e minimo SSE, linea superiore
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Risorse aggiuntive per la scansione automatizzata della potenza ottica a livello di wafer
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