Come testare i semiconduttori ad ampio bandgap

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Caratterizzazione dei semiconduttori WBG mediante test a doppio impulso

I materiali semiconduttori wide-bandgap (WBG) come il nitruro di gallio (GaN) richiedono il collaudo di parametri statici e dinamici per evitare perdite durante il transitorio di commutazione. Un sistema di test a doppio impulso (DPT) può eseguire test dinamici basati sugli standard JEDEC per i semiconduttori WBG, tra cui accensione, spegnimento, commutazione, recupero inverso e carica del gate.

Il sistema DPT deve comprendere strumentazione, sonde, un sistema di sicurezza, un software di controllo automatico, routine di autocalibrazione, un dispositivo di prova e schede di prova per diverse configurazioni di dispositivi. È necessario anche un induttore di carico. Una volta impostata l'apparecchiatura, inserire i parametri della scheda nel menu di configurazione hardware del software e specificare l'induttore esterno desiderato e il suo valore. Quindi, impostare il sensore di corrente R²GC. Al termine, selezionare il dispositivo per configurare il test.

Soluzione di test a doppio impulso

Eseguite il test a doppio impulso (DPT) utilizzando un metodo di calibrazione e una tecnica di misura semiautomatici. L'analizzatore di dispositivi di potenza dinamica / tester a doppio impulso Keysight è una soluzione di test all-in-one che consente di misurare in modo affidabile e ripetibile le caratteristiche dinamiche dei semiconduttori di potenza wide-bandgap (WBG) (SiC, GaN) in conformità alle specifiche JEDEC. Sono incluse le seguenti tecniche di misura: compensazione della sonda, regolazione dell'offset, de-skewing e reiezione del rumore di modo comune.
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