광대역 갭 반도체 테스트 방법

견적 받기
파워 디바이스 분석기
+ 전력 디바이스 분석기
파워 디바이스 분석기
+ 전력 디바이스 분석기

이중 펄스 테스트를 이용한 WBG 반도체의 특성 분석

질화갈륨(GaN)과 같은 와이드 밴드갭(WBG) 반도체 재료는 스위칭 과도 상태 중 손실을 방지하기 위해 정적 및 동적 파라미터 모두를 테스트해야 합니다. 이중 펄스 테스트(DPT) 시스템은 턴온, 턴오프, 스위칭, 역회복 및 게이트 전하를 포함하여 WBG 반도체에 대한 JEDEC 표준에 따라 동적 테스트를 수행할 수 있습니다.

DPT 시스템에는 계측기, 프로브, 안전 시스템, 자동 제어 소프트웨어, 자동 보정 루틴, 테스트 픽스처 및 다양한 디바이스 구성을 위한 테스트 보드가 포함되어야 합니다. 부하 인덕터도 필요합니다. 장비 설정이 완료되면 소프트웨어의 하드웨어 구성 메뉴에 보드 파라미터를 입력하고 원하는 외부 인덕터와 그 값을 지정합니다. 다음으로 R²GC 전류 센서를 설정합니다. 완료되면 테스트를 구성할 디바이스를 선택합니다.

이중 펄스 테스트 솔루션

반자동 교정 방법 및 측정 기술을 사용하여 이중 펄스 테스트(DPT)를 수행하십시오. 키사이트 동적 전력 디바이스 분석기/이중 펄스 테스터는 JEDEC 사양을 준수하기 위해 와이드 밴드갭(WBG)(SiC, GaN) 전력 반도체 동적 특성의 신뢰할 수 있고 반복 가능한 측정을 가능하게 하는 올인원 테스트 솔루션입니다. 다음 측정 기술이 포함됩니다: 프로브 보상, 오프셋 조정, 디스큐잉 및 공통 모드 노이즈 제거.
견적 받기

WBG 반도체 테스트 데모 보기

당사의 더블 펄스 테스트 솔루션을 위한 제품 살펴보기

관련 사용 사례

MCU 절전 모드 전환 전류 분석 방법

Keysight CX3300을 사용하여 절전 모드와 활성 모드 전반에 걸친 MCU 전류 소비량을 분석하고 정량화하여 전력 비효율성을 파악하고 배터리 성능을 최적화합니다.

자세히 알아보기

비휘발성 메모리 소자의 특성 분석 방법

NVM 장치의 초고속 과도 전류를 측정하여 스위칭 동작을 분석하고 성능을 최적화합니다.

자세히 알아보기

NVM 장치 개발을 가속화하는 방법

Set/Reset 동작 중 발생하는 빠른 과도 전류를 높은 정확도로 측정하여 NVM 개발을 가속화합니다.

자세히 알아보기

문의하기 로고

전문가에게 문의하십시오.

적합한 솔루션을 찾는 데 도움이 필요하십니까?

문의하기