Testen von Halbleitern mit breiter Bandlücke

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Charakterisierung von WBG-Halbleitern mit Doppelimpulstest

Halbleitermaterialien mit breiter Bandlücke (WBG) wie Galliumnitrid (GaN) müssen sowohl auf statische als auch auf dynamische Parameter geprüft werden, um Verluste während der Schalttransienten zu vermeiden. Ein Doppelimpuls-Prüfsystem (DPT) kann dynamische Tests auf der Grundlage der JEDEC-Normen für WBG-Halbleiter durchführen, einschließlich Einschalten, Ausschalten, Schalten, Reverse Recovery und Gate-Ladung.

Das DPT-System sollte Messgeräte, Sonden, ein Sicherheitssystem, automatische Steuerungssoftware, automatische Kalibrierungsroutinen, eine Prüfvorrichtung und Prüfplatinen für verschiedene Gerätekonfigurationen umfassen. Außerdem wird eine Lastinduktivität benötigt. Sobald die Ausrüstung eingerichtet ist, geben Sie die Leiterplattenparameter in das Hardware-Konfigurationsmenü der Software ein und spezifizieren die gewünschte externe Induktivität und ihren Wert. Als nächstes richten Sie den R²GC-Stromsensor ein. Wählen Sie anschließend das Gerät aus, um den Test zu konfigurieren.

Doppelimpuls-Testlösung

Führen Sie Doppelpuls-Tests (DPT) mit einer halbautomatischen Kalibrierungsmethode und Messtechnik durch. Der Keysight Dynamic Power Device Analyzer/Doppelpuls-Tester ist eine All-in-One-Prüflösung, die eine zuverlässige, wiederholbare Messung der dynamischen Eigenschaften von Leistungshalbleitern mit breiter Bandlücke (SiC, GaN) ermöglicht, um den JEDEC-Spezifikationen zu entsprechen. Die folgenden Messtechniken sind enthalten: Sondenkompensation, Offset-Anpassung, De-Skewing und Gleichtaktrauschunterdrückung. 
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Siehe Demo des WBG-Halbleitertests

Entdecken Sie unsere Doppelimpuls-Testlösung

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