Halbleiterlösungen
- Entwurf und Simulation
- Modellierung von Geräten
- IP-Verwaltung
- Wafer-Test
- Gerätetest
Optimieren Sie Halbleiterdesign und -leistung mit schnellen, präzisen Multidomänen-Simulationslösungen.
Entwurf und Simulation von HF-Schaltungen
Beschleunigen Sie den Entwurf von HF-Schaltungen mit integrierter Layout-, EM- und Schaltungssimulation.
Elektrothermisches Design
Simulieren Sie gekoppelte elektrische und thermische Effekte, um die Zuverlässigkeit und Leistung von Halbleitern zu optimieren.
3D-EM-Simulation
Simulieren Sie elektromagnetische Effekte in komplexen 3D-Halbleiterstrukturen für eine genaue Designvalidierung.
RFIC- und MMIC-Simulation
Optimieren Sie das RFIC- und MMIC-Design mit skalierbaren, gießereizertifizierten Simulationsabläufen.
HF-Synthese
Automatisieren Sie die HF- und Mikrowellenschaltungssynthese für ein schnelles und präzises Halbleiterdesign.
Wafer-Charakterisierungstest
Optimieren Sie Messungen auf Waferebene zur Bewertung von Halbleiterbauelementen.
3D-heterogene Integration und Chiplets
Modellierung fortschrittlicher heterogener 3D-Integrations- und Chiplet-Architekturen mit voller EM-Genauigkeit.
Photonische Simulation
Entwerfen und optimieren Sie photonische Geräte und integrierte Schaltkreise für Halbleiteranwendungen.
Simulation supraleitender Quantenschaltkreise
Modellierung und Simulation von Flussquantisierungs-Josephson-Kontakt-Schaltungen für ein präzises supraleitendes Quantenschaltungsdesign.
Automatisieren Sie die Charakterisierung von Halbleiterbauelementen, die Parameterextraktion und die Modellvalidierung, um schneller genaue und zuverlässige Modelle zu erstellen.
Automatisierung der Gerätemodellierung
Automatisieren Sie die Gerätecharakterisierung und die kompakte Modellgenerierung für Halbleiter.
Modellierung von Siliziumbauteilen
Extrahieren, optimieren und validieren Sie SPICE-Modelle für fortschrittliche Silizium-Halbleiterbauelemente.
SPICE-Modell QA
Validieren Sie Halbleiter-SPICE-Modelle, um Genauigkeit und Konsistenz sicherzustellen.
Optimierung des Fotodetektormodells
Optimierung von Siliziumphotonik-PIN-Photodetektormodellen anhand von Messdaten für eine genaue Foundry-Prozesssimulation.
Extraktion von Gerätemodellparametern
Automatisierte Extraktion und Neuzentrierung von Gerätemodellparametern mithilfe von maschinellem Lernen für eine schnellere und wiederholbare Modellentwicklung.
Zentralisieren, verfolgen und bearbeiten Sie Halbleiter-IP und Designdaten gemeinsam, um die Effizienz zu verbessern und die Designintegrität sicherzustellen.
Verwaltung von Konstruktionsdaten
Steuern und verfolgen Sie Halbleiterdesigndaten mit zentraler Versionsverwaltung.
IP-Verwaltung
Verwalten Sie die Lebenszyklen von Halbleiter-IP mit sicherer Speicherung und kontrolliertem Zugriff.
Visuelles Design Management
Zentralisieren und verfolgen Sie Halbleiterdesigndaten für eine verbesserte Teamzusammenarbeit.
Führen Sie Hochdurchsatz-Wafertests mit Bewegungssteuerung, Photonik und parametrischen Messungen durch.
Silizium-Photonik-Wafer-Test
Charakterisieren Sie photonische Halbleiterbauelemente auf Waferebene mit integrierten optischen/elektrischen Tests.
Grundlegender parametrischer Test
Messen Sie wichtige Halbleiterparameter mit präzisen, konfigurierbaren Testlösungen.
On-Wafer-HF- und Sub-THz-Charakterisierung
Charakterisieren Sie fortschrittliche Halbleiterbauelemente im Millimeterwellen- und Sub-THz-Frequenzbereich. Führen Sie präzise On-Wafer-S-Parameter- und Bauelementmessungen durch, um HF-, 5G/6G-, Automobilradar- und Hochfrequenztechnologien der nächsten Generation zu validieren.
Siliziumphotonik elektrooptische Charakterisierung
Beschleunigen Sie die Entwicklung der Siliziumphotonik durch präzise elektrooptische Charakterisierung. Messen Sie die optische und elektrische Leistungsfähigkeit, einschließlich elektrooptischer S-Parameter, um photonische Hochgeschwindigkeitsbauelemente und -komponenten zu validieren.
Paralleler parametrischer Test
Steigern Sie den Durchsatz bei Halbleitertests mit parallelen parametrischen Messungen.
Bewegungssteuerung
Ermöglicht eine präzise Bewegungssteuerung für die Waferprüfung und Testausrichtung von Halbleiterbauelementen.
Gewährleisten Sie Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Hochgeschwindigkeitsbetrieb für jedes Design, von Kernmessungen bis hin zur Funktionalität auf Systemebene.
Doppel-Impuls-Test
Charakterisieren Sie dynamische Leistungshalbleiterbauelemente mit Doppelimpulstests.
Parametrischer Test
Liefern Sie Präzision, um parametrische Tests/Zuverlässigkeits- und Charakterisierungstests für Halbleiter zu erfüllen.
Analyse von tieffrequentem Lärm
Analysieren Sie niederfrequentes Rauschen und bewerten Sie die Halbleiterzuverlässigkeit mit Software, die sich in PathWave WaferPro integrieren lässt.
Charakterisierung von nichtflüchtigen Speicherbausteinen
Charakterisierung neuartiger nichtflüchtiger Speicherbausteine durch präzise Strom-Spannungs- und Transientenmessungen.
Speicheranalyse
Analyse der Leistungsfähigkeit und des Timings von DDR5-Halbleiterspeichern mittels Logikanalyse.
PCI Express®- und CXL-Validierung
Validierung von PCIe- und CXL-Halbleiterdesigns von der physikalischen Schicht bis zum Protokoll.
Beschleunigung der Validierung von HF- und mmWave-ICs vom Wafer bis zur Produktion.
Hochgeschwindigkeits-SerDes-/PAM4-Empfängertest
Hochgeschwindigkeits-SerDes-Empfänger für Datenraten der nächsten Generation validieren.
MIPI® C-PHY℠ und D-PHY℠ Validierung
Validierung von MIPI-Schnittstellen für Hochgeschwindigkeits-Mobil-, Automobil- und eingebettete Anwendungen.
Charakterisierung von Low-Power-ICs
Charakterisierung von Halbleiterbauelementen und integrierten Schaltungen mit geringem Stromverbrauch präzise.
USB4 / Hochgeschwindigkeitsschnittstellenvalidierung
Validierung von USB4- und Hochgeschwindigkeitsschnittstellendesigns vom Sender zum Empfänger.
Entdecken Sie die Lösung für das Halbleiter-Lehrlabor.
Grundlagen der Konstruktion und Messung
Erfahren Sie, wie das Semiconductor Teaching Lab von Keysight Lehrende dabei unterstützt, Absolventen schnell auf den Arbeitsmarkt im Halbleitersektor vorzubereiten.
Parametrischer Test und On-Wafer-Messung
Erfahren Sie mehr über die UU102LAB-Lösung von Keysight, die es Universitäten ermöglicht, branchenfertige Absolventen für die Halbleiterindustrie auszubilden.
Erfahren Sie, wie die UU103LAB-Lösung von Keysight Universitäten dabei unterstützt, branchenfertige Absolventen im Bereich der photonischen IC-Messtechnik und -Prüfung auszubilden.
Bilden Sie die Chip-Innovatoren von morgen schon heute aus
Die umfassenden Lösungen für das Halbleiter-Lehrlabor ermöglichen es den Studierenden, schneller Innovationen zu entwickeln, indem sie sie in realweltliche Designprozesse, Wafer-Level-Tests und photonische Integration einbinden.
Anwendungsfälle für Halbleiter erkunden
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Halbleiterchip-Charakterisierung
Entdecken Sie Lösungen zur Charakterisierung von Leistungshalbleiter-Bare-Chips vor der Verpackung.
Lernzentrum
Integrieren Sie HF-Baugruppen mit mehreren Technologien, führen Sie parametrische Halbleitertests durch und erkunden Sie Messtechniken für Hochleistungshalbleiter mit großer Bandlücke. Erfahren Sie, wie.
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Erfahren Sie, wie Sie GaN-Halbleiterbauelemente modellieren.
Broschüren
Ein Lehrlabor für Halbleiter/ICs einrichten mit Vorschlägen zu allem von Simulation über Validierung bis hin zu Experimenten.
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Halbleiter-IP ermöglicht einen modularen Ansatz für das System-on-a-Chip-Design (SoC). Entdecken Sie 6 Schritte zum effektiven IP-Management.
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