Charakterisierung integrierter Low-Power-Schaltungen

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Charakterisierung von Low-Power-ICs mit einer Quellenmesseinheit

Ein herkömmlicher Prüfaufbau zur Messung der Strom-/Spannungseigenschaften einer integrierten Schaltung (IC) mit geringem Stromverbrauch erfordert eine Vielzahl von Basisinstrumenten. Dazu gehören mehrere Stromversorgungen, um die erforderliche Spannung an verschiedene Prüfanschlüsse mit unterschiedlichen Spannungsanforderungen zu liefern, sowie Digitalmultimeter (DMMs) zur Messung von Spannung und Strom. Einige Testfälle erfordern Impulsgeneratoren für die Simulation von Signalen und Digitalisierer für die Erfassung von Signalen im Zeitbereich.

Verwenden Sie eine Source Measure Unit (SMU) als Stromversorgung sowie ein Amperemeter, ein Voltmeter und einen Digitizer, um mehrkanalige synchrone Strom-/Spannungsmessungen (IV) durchzuführen. Stellen Sie die Selbstkalibrierung des Geräts und den genauen Messbereich ein, bevor Sie Ruhestrommessungen durchführen, insbesondere bei ICs mit Präzisionswerten unter Milliampere (mA). Für genaue dynamische Messungen muss die Abtastrate der SMU schnell genug sein, um Signale beim Übergang vom Ruhezustand in den aktiven Zustand zu erfassen.

IC-Charakterisierungslösung mit geringem Stromverbrauch

Die Charakterisierung von Low-Power-ICs erfordert eine Vielzahl von Basisinstrumenten, darunter mehrere Stromversorgungen, Digitalmultimeter (DMMs), Impulsgeneratoren und Digitizer. Die Keysight-Lösung für die Charakterisierung von ICs mit geringer Leistung umfasst die SMU der Serie PZ2100, die 20 SMU-Kanäle in einem 1U-Rack mit integriertem Pulsgenerator/Digitalisierer bietet, sowie die PW9251A PathWave IV Curve Measurement Software. Mit dieser Lösung können Sie IV-Charakterisierungen unter verschiedenen Betriebsbedingungen bei extrem niedrigen Strom- und Spannungspegeln durchführen, um das Design Ihrer Schaltung zu validieren, etwaige Fehler oder Probleme zu identifizieren und die Leistung zu optimieren.
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