Come caratterizzare i circuiti integrati a bassa potenza
Caratterizzazione dei circuiti integrati a basso consumo con un'unità di misura della sorgente
Una configurazione di test convenzionale per la misurazione delle caratteristiche di corrente/tensione di un circuito integrato (IC) a bassa potenza richiede una serie di strumenti di base. Il setup comprende più alimentatori per fornire la tensione necessaria alle varie porte di test con requisiti di tensione diversi e multimetri digitali (DMM) per misurare tensione e corrente. Alcuni casi di test richiedono generatori di impulsi per simulare i segnali e digitalizzatori per catturare i segnali nel dominio del tempo.
Utilizzare un'unità di misura sorgente (SMU) come alimentatore e un amperometro, un voltmetro e un digitalizzatore per eseguire misure di corrente/tensione sincrone (IV) multicanale. Impostare l'autocalibrazione dello strumento e l'accuratezza dell'intervallo di misura prima di qualsiasi misura di corrente di riposo, soprattutto per i circuiti integrati con livelli di precisione inferiori al milliampere (mA). Per ottenere misure dinamiche accurate, la frequenza di campionamento della SMU deve essere sufficientemente veloce per catturare i segnali durante la transizione dallo stato di riposo a quello attivo.
Soluzione di caratterizzazione IC a basso consumo
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PZ2110A SMU di precisione ad alta risoluzione (10 fA, 210 V)
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SMU di precisione ad alta velocità PZ2121A (100 fA, 60 V, 15 MSa/s)
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PZ2131A SMU di precisione ad alta densità (10 pA, 30 V)
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Mainframe SMU di precisione ad alta densità PZ2100A (4 slot, 1U)
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PW9251A Software di misurazione delle curve PathWave IV
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