如何表徵低功耗積體電路

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精密源／量測單元
精密 源／量測單元
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使用源測量單元對低功耗積體電路進行特性分析

用於測量低功耗積體電路（IC）電流/電壓特性的傳統測試系統，需配備多種儀器。該系統包含多組電源供應器，以向不同電壓需求的測試端口提供所需電壓；並數位萬用電錶 DMM）用於測量電壓與電流。某些測試情境還需脈衝產生器模擬訊號，以及數位化儀器在時域內擷取訊號。

使用源測量單元（SMU）作為電源，並搭配電流表、電壓表及數位化器執行多通道同步電流/電壓（IV）測量。在進行任何待機電流測量前，務必設定儀器自校準功能及精確測量範圍，尤其針對電流精度低於毫安（mA）等級的積體電路（IC）。 為確保動態測量精確度，SMU的採樣速率必須足夠快，方能捕捉從睡眠狀態轉為工作狀態的過渡期訊號。

低功耗積體電路特性分析解決方案

低功耗積體電路特性分析需配備多種基礎儀器 多路電源供應器、數位萬用電錶 DMM）、脈衝產生器及數位化器。 是德科技的低功耗 IC 特性分析解決方案包含 PZ2100 系列 SMU，在 1U 機架空間內提供 20 個 SMU 通道，並整合脈衝器/數位化器，以及 PW9251APathWave 曲線測量軟體。 此解決方案使您能夠在各種操作條件下，以極低的電流和電壓水準執行IV特性分析，藉此驗證電路設計、識別任何故障或問題，並優化其性能。
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