如何表徵低功耗積體電路

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精密源量測單元
+ 精密電源/量測單元
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使用源測量單元特性化低功率 IC。

用於量測低功耗積體電路 (IC) 電流/電壓特性的傳統測試設定，需要各種基本儀器。此設定包括多個電源供應器，用於向具有不同電壓要求的各種測試埠提供所需電壓，以及用於量測電壓和電流的數位萬用電錶 (DMM)。某些測試案例需要脈衝產生器來模擬訊號，以及數位化器來擷取時域訊號。

使用源量測單元 (SMU) 作為電源供應器、安培計、伏特計和數位化儀，執行多通道同步電流/電壓 (IV) 量測。在進行任何休眠電流量測之前，請設定儀器自我校準和準確的量測範圍，特別是針對精準度低於毫安培 (mA) 的 IC。為了進行準確的動態量測，SMU 的取樣率必須足夠快，才能在從休眠狀態轉換到活動狀態期間擷取訊號。

低功耗 IC 特性分析解決方案

對低功耗 IC 進行特性分析，需要多種基本儀器，包括多個電源供應器、數位萬用電表 (DMM)、脈衝產生器和數位化儀。Keysight 低功耗 IC 特性分析解決方案包括 PZ2100 系列 SMU，它在 1U 機架空間中提供 20 個 SMU 通道，並整合了脈衝產生器/數位化儀，以及 PW9251A PathWave IV 曲線量測軟體。此解決方案使您能夠在各種操作條件下，以極低的電流和電壓水平執行 IV 特性分析，以驗證您的電路設計、識別任何故障或問題，並最佳化其性能。
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