Cómo caracterizar circuitos integrados de baja potencia

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Caracterización de circuitos integrados de baja potencia con una unidad de medida de la fuente

Una configuración de prueba convencional para medir las características de corriente/tensión de un circuito integrado (CI) de baja potencia requiere una serie de instrumentos básicos. La configuración incluye varias fuentes de alimentación para suministrar la tensión necesaria a varios puertos de prueba con diferentes requisitos de tensión y multímetros digitales (DMM) para medir la tensión y la corriente. Algunos casos de prueba requieren generadores de impulsos para simular señales y digitalizadores para capturar señales en el dominio temporal.

Utilice una unidad de medida de fuente (Unidad de Alimentación y Medida) como fuente de alimentación y un amperímetro, voltímetro y digitalizador para realizar mediciones de corriente / tensión (IV) síncronas multicanal. Establezca la autocalibración del instrumento y el rango de medición precisa antes de cualquier medición de corriente en reposo, especialmente para circuitos integrados con niveles de precisión por debajo de miliamperios (mA). Para obtener mediciones dinámicas precisas, la frecuencia de muestreo de la Unidad de Alimentación y Medida debe ser lo suficientemente rápida como para capturar señales durante la transición del estado de reposo al estado activo.

Solución de caracterización de CI de bajo consumo

La caracterización de circuitos integrados de baja potencia requiere una variedad de instrumentos básicos que incluyen múltiples fuentes de alimentación, multímetros digitales (DMM), generadores de impulsos y digitalizadores. La solución de caracterización de CI de baja potencia de Keysight incluye la Unidad de Alimentación y Medida serie PZ2100, que ofrece 20 canales de Unidad de Alimentación y Medida en un espacio de rack de 1U con pulser / digitalizador integrado, y el software PW9251A PathWave IV Curve Measurement. Esta solución le permite realizar caracterizaciones IV en diversas condiciones de funcionamiento a niveles de corriente y tensión extremadamente bajos para validar el diseño de su circuito, identificar cualquier fallo o problema y optimizar su rendimiento.
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