저전력 집적 회로의 특성 분석 방법

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소스 측정 장치(SMU)를 사용한 저전력 IC 특성화

저전력 집적 회로(IC)의 전류/전압 특성을 측정하기 위한 기존 테스트 설정에는 다양한 기본 계측기가 필요합니다. 이 설정에는 다양한 전압 요구 사항을 가진 여러 테스트 포트에 필요한 전압을 공급하기 위한 다중 전원 공급 장치와 전압 및 전류 측정을 위한 디지털 멀티미터(DMM)가 포함됩니다. 일부 테스트 사례에서는 신호 시뮬레이션을 위한 펄스 발생기와 시간 영역에서 신호를 캡처하기 위한 디지타이저가 필요합니다.

소스 측정 장치(SMU)를 전원 공급 장치, 전류계, 전압계 및 디지타이저로 사용하여 다중 채널 동기식 전류/전압(IV) 측정을 수행합니다. 특히 밀리암페어(mA) 미만의 정밀도 수준을 가진 IC의 경우, 절전 전류 측정 전에 계측기 자체 교정 및 정확한 측정 범위를 설정하십시오. 정확한 동적 측정을 위해서는 SMU의 샘플링 속도가 절전 상태에서 활성 상태로 전환되는 동안 신호를 캡처할 수 있을 만큼 충분히 빨라야 합니다.

저전력 IC 특성화 솔루션

저전력 IC를 특성화하려면 다중 전원 공급 장치, 디지털 멀티미터(DMM), 펄스 발생기 및 디지타이저를 포함한 다양한 기본 장비가 필요합니다. 키사이트 저전력 IC 특성화 솔루션에는 통합 펄서/디지타이저가 있는 1U 랙 공간에 20개의 SMU 채널을 제공하는 PZ2100 시리즈 SMU와 PW9251A PathWave IV 곡선 측정 소프트웨어가 포함됩니다. 이 솔루션을 통해 매우 낮은 전류 및 전압 레벨에서 다양한 작동 조건에서 IV 특성화를 수행하여 회로 설계를 검증하고, 결함이나 문제를 식별하며, 성능을 최적화할 수 있습니다.
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