포토닉 IC 측정 수행 방법

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+ 정밀 소스/측정 장치

교육 실습실에서 포토닉 IC 측정 및 특성화를 수행합니다.

통합 포토닉스 이론을 실제 측정 기술과 연결하려면 학생들이 산업 표준 광학 테스트 장비를 사용하여 포토닉스 집적 회로(PIC)를 직접 특성화할 수 있는 실험실 환경이 필요합니다. 포토닉스 및 반도체 과정에서 학생들은 광섬유를 다루고, 프로브 스테이션에서 디바이스를 정렬하며, 삽입 손실(IL), 편광 의존 손실(PDL) 및 광전자 응답성과 같은 측정을 수행하는 방법을 배워야 합니다. 또한 다양한 광학 및 전기 조건에서 Mach-Zehnder 간섭계(MZI), 링 공진기 및 포토다이오드를 포함한 디바이스 동작을 분석해야 합니다. 이러한 실습 실험은 학생들이 도파관 전파, 공진 및 편광과 같은 이론적 개념을 실제 디바이스 성능과 연결하는 데 도움이 됩니다.

이러한 학습 성과를 달성하려면 전문 광자학 계측기, 체계적인 실험실 모듈 및 직관적인 측정 소프트웨어를 통합하는 교육 플랫폼이 필요합니다. 광자학 IC 측정 교육 실험실을 통해 학생들은 고정 및 스윕 파장 측정을 수행하고, 편광 상태를 제어 및 분석하며, 제조 환경에서 사용되는 뮐러 행렬 편광 분석과 같은 고급 기술을 적용할 수 있습니다. 실제 측정 워크플로와 안내된 실험을 결합함으로써 대학은 확장 가능하고 산업 관련 교육을 제공하는 동시에 통합 광자학 및 광학 엔지니어링 분야에서 경력을 쌓는 데 필수적인 실용적인 광학 테스트 및 특성화 기술을 학생들에게 제공할 수 있습니다.

포토닉스 IC 측정 교육용 실험실 솔루션

통합 포토닉스 이론과 실제 광학 디바이스 특성화를 연결하려면 학생들이 포토닉스 디바이스 동작을 직접 관찰하면서 정밀한 광학 및 광전자 측정을 수행할 수 있는 실험실 환경이 필요합니다. 키사이트 포토닉스 IC 측정 교육용 랩 솔루션 UU102Lab은 정밀한 광학 및 광전자 측정을 가능하게 함으로써 포토닉스 이론과 실제 특성화를 연결합니다. 이 솔루션은 N7778C 스윕 파장 소스, N774xC 광 파워 미터, N7786C 광학 부품 분석기, B2901CL SMU를 포토닉스 애플리케이션 스위트 소프트웨어와 통합합니다. IL, PDL, 공진기 및 포토다이오드 테스트를 지원하며, 정확하고 산업 관련성이 높은 포토닉스 측정 교육을 제공하기 위해 구조화된 랩과 자동화된 워크플로우를 제공합니다.

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