포토닉 IC 측정 수행 방법

견적 받기
정밀 소스/측정 장치
+ 정밀 소스/측정 장치
정밀 소스/측정 장치
+ 정밀 소스/측정 장치

교육 실습실에서 포토닉 IC 측정 및 특성화를 수행합니다.

통합 포토닉스 이론을 실제 측정 기술과 연결하려면 학생들이 산업 표준 광학 테스트 장비를 사용하여 포토닉스 집적 회로(PIC)를 직접 특성화할 수 있는 실험실 환경이 필요합니다. 포토닉스 및 반도체 과정에서 학생들은 광섬유를 다루고, 프로브 스테이션에서 디바이스를 정렬하며, 삽입 손실(IL), 편광 의존 손실(PDL) 및 광전자 응답성과 같은 측정을 수행하는 방법을 배워야 합니다. 또한 다양한 광학 및 전기 조건에서 Mach-Zehnder 간섭계(MZI), 링 공진기 및 포토다이오드를 포함한 디바이스 동작을 분석해야 합니다. 이러한 실습 실험은 학생들이 도파관 전파, 공진 및 편광과 같은 이론적 개념을 실제 디바이스 성능과 연결하는 데 도움이 됩니다.

이러한 학습 성과를 달성하려면 전문 광자학 계측기, 체계적인 실험실 모듈 및 직관적인 측정 소프트웨어를 통합하는 교육 플랫폼이 필요합니다. 광자학 IC 측정 교육 실험실을 통해 학생들은 고정 및 스윕 파장 측정을 수행하고, 편광 상태를 제어 및 분석하며, 제조 환경에서 사용되는 뮐러 행렬 편광 분석과 같은 고급 기술을 적용할 수 있습니다. 실제 측정 워크플로와 안내된 실험을 결합함으로써 대학은 확장 가능하고 산업 관련 교육을 제공하는 동시에 통합 광자학 및 광학 엔지니어링 분야에서 경력을 쌓는 데 필수적인 실용적인 광학 테스트 및 특성화 기술을 학생들에게 제공할 수 있습니다.

포토닉스 IC 측정 교육용 실험실 솔루션

통합 포토닉스 이론과 실제 광학 디바이스 특성화를 연결하려면 학생들이 포토닉스 디바이스 동작을 직접 관찰하면서 정밀한 광학 및 광전자 측정을 수행할 수 있는 실험실 환경이 필요합니다. 키사이트 포토닉스 IC 측정 교육용 랩 솔루션 UU102Lab은 정밀한 광학 및 광전자 측정을 가능하게 함으로써 포토닉스 이론과 실제 특성화를 연결합니다. 이 솔루션은 N7778C 스윕 파장 소스, N774xC 광 파워 미터, N7786C 광학 부품 분석기, B2901CL SMU를 포토닉스 애플리케이션 스위트 소프트웨어와 통합합니다. IL, PDL, 공진기 및 포토다이오드 테스트를 지원하며, 정확하고 산업 관련성이 높은 포토닉스 측정 교육을 제공하기 위해 구조화된 랩과 자동화된 워크플로우를 제공합니다.
견적 받기

당사의 포토닉스 IC 측정 솔루션 제품 살펴보기

관련 사용 사례

펄스형 LED 특성 측정 방법

M9601A PXIe 정밀 SMU를 사용하여 20 µs 전압 펄스와 고속 전압 및 전류 샘플링을 통해 펄스형 LED 전류를 측정합니다.

자세히 알아보기

장치의 빠른 계단 응답을 측정하는 방법

M9601A PXIe 정밀 SMU를 사용하여 고속 전압 공급 및 샘플링 기능을 통해 전압 계단 응답 및 과도 거동을 측정합니다.

자세히 알아보기

정밀한 IV 측정을 통한 LED 특성 분석 방법

M9601A PXIe 정밀 SMU를 사용하여 저전류 측정, 20 µs 펄스 및 고속 샘플링을 통해 LED의 전류-전압(IV) 특성을 분석합니다.

자세히 알아보기

문의하기 로고

전문가에게 문의하십시오.

귀하에게 적합한 솔루션을 찾는 데 도움이 필요하십니까?

문의하기