フォトニックIC測定の実行方法。

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教育ラボでフォトニックIC測定と特性評価を実施

集積フォトニクス理論と実世界の測定スキルを結びつけるには、学生が業界標準の光テスト機器を使用してフォトニック集積回路（PIC）を直接特性評価できる実験環境が必要です。フォトニクスおよび半導体コースでは、学生は光ファイバーの取り扱い、プローブステーションでのデバイスのアライメント、挿入損失（IL）、偏波依存損失（PDL）、光電応答性などの測定を実行することを学ぶ必要があります。また、マッハツェンダー干渉計（MZI）、リング共振器、フォトダイオードなどのデバイスの挙動を、さまざまな光学的および電気的条件下で分析する必要があります。これらの実践的な実験は、学生が導波路伝播、共振、偏波などの理論的概念を実際のデバイス性能と結びつけるのに役立ちます。

この学習成果を達成するには、プロフェッショナルなフォトニクス計測器、体系化されたラボモジュール、および直感的な測定ソフトウェアを統合した教育プラットフォームが必要です。フォトニクスIC測定教育ラボでは、学生が固定波長および掃引波長測定を実行し、偏光状態を制御および解析し、製造環境で使用されるミューラー行列偏光解析などの高度な技術を適用できます。ガイド付き実験と実際の測定ワークフローを組み合わせることで、大学はスケーラブルで業界に関連する教育を提供し、集積フォトニクスおよび光工学のキャリアに不可欠な実践的な光テストおよび特性評価スキルを学生に習得させることができます。

フォトニクスIC測定教育用ラボソリューション

集積フォトニクス理論と実用的な光デバイス特性評価を結びつけるには、学生がフォトニックデバイスの挙動を直接観察しながら、高精度な光および光電子測定を実行できる実験環境が必要です。キーサイトのフォトニクスIC測定教育ラボソリューションUU102Labは、高精度な光および光電子測定を可能にすることで、フォトニクス理論と実用的な特性評価を結びつけます。N7778C掃引波長光源、N774xC光パワー・メータ、N7786C光コンポーネント・アナライザ、およびB2901CL SMUをフォトニクス・アプリケーション・スイート・ソフトウェアと統合しています。IL、PDL、共振器、フォトダイオードのテストをサポートし、構造化されたラボと自動化されたワークフローを提供することで、正確で業界関連性の高いフォトニクス測定トレーニングを実現します。
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