Solutions pour les semi-conducteurs
- Conception et simulation
- Modélisation des dispositifs
- Gestion de l'IP
- Test de plaquettes
- Test de l'appareil
Optimisez la conception et les performances des semi-conducteurs grâce à des solutions de simulation multi-domaines rapides et précises.
Conception et simulation de circuits RF
Accélérer la conception de circuits RF grâce à l'intégration de la mise en page, de l'EM et de la simulation de circuits.
Synthèse RF
Automatisez la synthèse des circuits RF et micro-ondes pour une conception rapide et précise des semi-conducteurs.
Intégration hétérogène 3D et chiplets
Modéliser des architectures avancées d'intégration hétérogène et de chiplets en 3D avec une précision EM totale.
Conception électrothermique
Simuler les effets électriques et thermiques couplés pour optimiser la fiabilité et les performances des semi-conducteurs.
Simulation EM en 3D
Simuler les effets électromagnétiques dans les structures complexes de semi-conducteurs en 3D pour une validation précise de la conception.
Simulation RFIC et MMIC
Rationalisez la conception RFIC et MMIC grâce à des flux de simulation évolutifs et certifiés par les fonderies.
Simulation de circuits quantiques supraconducteurs
Valider les algorithmes et le matériel quantiques supraconducteurs à l'aide d'une simulation haute fidélité au niveau des circuits.
Simulation photonique
Concevoir et optimiser des dispositifs photoniques et des circuits intégrés pour des applications à semi-conducteurs.
Automatisez la modélisation des dispositifs, validez les modèles SPICE et rationalisez la caractérisation au niveau de la plaquette pour une conception plus rapide et plus précise des semi-conducteurs.
Automatisation de la modélisation des dispositifs
Automatiser la caractérisation des dispositifs et la génération de modèles compacts pour les semi-conducteurs.
Modélisation des dispositifs en silicium
Extraire, optimiser et valider les modèles SPICE pour les dispositifs avancés à semi-conducteur en silicium.
Modèle SPICE QA
Valider les modèles SPICE de semi-conducteurs afin d'en assurer la précision et la cohérence.
Test de caractérisation des plaquettes
Rationaliser les mesures au niveau de la plaquette pour l'évaluation des dispositifs à semi-conducteur.
Centraliser, suivre et collaborer sur la propriété intellectuelle des semi-conducteurs et les données de conception afin d'améliorer l'efficacité et de garantir l'intégrité de la conception.
Gestion des données de conception
Contrôle et traçabilité des données de conception des semi-conducteurs grâce à une gestion centralisée des versions.
Gestion de l'IP
Gérer les cycles de vie de la propriété intellectuelle des semi-conducteurs grâce à un stockage sécurisé et à un accès contrôlé.
Gestion de la conception visuelle
Centraliser et suivre les données de conception des semi-conducteurs pour améliorer la collaboration au sein de l'équipe.
Effectuer des essais de plaquettes à haut débit avec contrôle des mouvements, photonique et mesures paramétriques.
Test de plaquettes de silicium photonique
Caractériser les dispositifs semi-conducteurs photoniques au niveau de la tranche de silicium à l'aide de tests optiques/électriques intégrés.
Test paramétrique fondamental
Mesurez les paramètres essentiels des semi-conducteurs grâce à des solutions de test précises et configurables.
Test paramétrique parallèle
Améliorer le rendement des essais de semi-conducteurs grâce à des mesures paramétriques parallèles.
Contrôle du mouvement
Permet un contrôle précis des mouvements pour le palpage des plaquettes et l'alignement des dispositifs de test des semi-conducteurs.
Garantir la précision, la fiabilité et le fonctionnement à grande vitesse pour chaque conception, depuis les mesures de base jusqu'aux fonctionnalités au niveau du système.
Test de la double impulsion
Caractériser les dispositifs semi-conducteurs de puissance dynamiques à l'aide de tests à double impulsion.
Test paramétrique
Fournir la précision nécessaire pour répondre aux tests paramétriques / de fiabilité et de caractérisation pour les semi-conducteurs.
Analyse du bruit à basse fréquence
Analysez le bruit à basse fréquence et évaluez la fiabilité des semi-conducteurs à l'aide d'un logiciel qui s'intègre à PathWave WaferPro.
Analyse de la forme d'onde du courant du dispositif
Identifier et analyser les signaux et événements anormaux intermittents dans la forme d'onde, ce que l'analyse manuelle ne peut pas faire.
Test de conformité MIPI® D-PHY℠
Vérifier la conformité des émetteurs MIPI D-PHY pour les applications mobiles et les puces.
Analyse de la mémoire
Analyser les performances et la synchronisation des mémoires à semi-conducteurs à l'aide de l'analyse logique.
Détecter les défauts électriques et structurels dans les boîtiers de semi-conducteurs avancés.
Explorer les cas d'utilisation des semi-conducteurs
Découvrez les ressources sur les semi-conducteurs
Livre blanc
Caractérisation des puces à semi-conducteurs
Explorer les solutions permettant de caractériser les puces nues de semi-conducteurs de puissance avant leur conditionnement.
Carrefour d'apprentissage
Intégrez des assemblages RF multi-technologies, effectuez des tests paramétriques de semi-conducteurs et explorez les techniques de mesure de semi-conducteurs haute puissance à large bande passante. Apprenez comment.
Livre électronique
Apprenez à modéliser les dispositifs semi-conducteurs GaN.
Brochures
Mettre en place un laboratoire d'enseignement sur les semi-conducteurs et les technologies de l'information. Créer un laboratoire d'enseignement sur les semi-conducteurs et les circuits intégrés, avec des suggestions sur tous les aspects, de la simulation à la validation et aux expériences.
Livre électronique
La propriété intellectuelle des semi-conducteurs permet une approche modulaire de la conception des systèmes sur puce (SoC). Découvrez les 6 étapes d'une gestion efficace de la propriété intellectuelle.
Résolvons le problème de l'avenir.
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