Comment tester les semi-conducteurs à large bande passante ?

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Caractérisation des semi-conducteurs WBG à l'aide d'un test à double impulsion

Les matériaux semi-conducteurs à large bande passante (WBG) tels que le nitrure de gallium (GaN) nécessitent de tester les paramètres statiques et dynamiques afin d'éviter les pertes pendant le transitoire de commutation. Un système de test à double impulsion (DPT) peut effectuer des tests dynamiques basés sur les normes JEDEC pour les semi-conducteurs WBG, y compris l'allumage, l'extinction, la commutation, la récupération inverse et la charge de grille.

Le système DPT doit comprendre des instruments, des sondes, un système de sécurité, un logiciel de contrôle automatisé, des routines d'autocalibrage, un montage d'essai et des cartes d'essai pour différentes configurations d'appareils. Un inducteur de charge est également nécessaire. Une fois l'équipement installé, entrez les paramètres de la carte dans le menu de configuration du matériel du logiciel et spécifiez l'inducteur externe souhaité et sa valeur. Ensuite, configurez le capteur de courant R²GC. Une fois cela fait, sélectionnez le dispositif pour configurer le test.

Solution de test à double impulsion

Effectuez des tests à double impulsion (DPT) à l'aide d'une méthode d'étalonnage et d'une technique de mesure semi-automatiques. L'analyseur de dispositifs de puissance dynamique / testeur à double impulsion Keysight est une solution de test tout-en-un qui permet une mesure fiable et répétable des caractéristiques dynamiques des semi-conducteurs de puissance à large bande interdite (SiC, GaN) pour se conformer aux spécifications JEDEC. Les techniques de mesure suivantes sont incluses : compensation de la sonde, ajustement du décalage, désaxage et réjection du bruit de mode commun.
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