ワイドバンドギャップ半導半導体テスト方法

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ダブルパルステストによるWBG半導体の特性評価

窒化ガリウム（GaN）などのワイドバンドギャップ（WBG）半導体材料は、スイッチング過渡時の損失を避けるために、静的および動的パラメータの両方のテストが必要です。ダブルパルステスト（DPT）システムは、ターンオン、ターンオフ、スイッチング、逆回復、ゲート電荷など、WBG半導体向けのJEDEC規格に基づいた動的テストを実行できます。

DPTシステムには、計測器、プローブ、安全システム、自動制御ソフトウェア、自動校正ルーチン、テストフィクスチャ、および異なるデバイス構成用のテストボードが含まれている必要があります。また、負荷インダクタも必要です。機器のセットアップが完了したら、ソフトウェアのハードウェア構成メニューでボードパラメータを入力し、目的の外部インダクタとその値を指定します。次に、R²GC電流センサーをセットアップします。完了したら、テストを構成するデバイスを選択します。

ダブルパルス試験ソリューション

半自動校正方法と測定技術を使用して、ダブルパルステスト (DPT) を実行します。キーサイトのダイナミックパワーデバイスアナライザ／ダブルパルステスターは、JEDEC仕様に準拠したワイドバンドギャップ (WBG) (SiC、GaN) パワー半導体の動的特性の信頼性の高い再現可能な測定を可能にするオールインワンのテストソリューションです。以下の測定技術が含まれます：プローブ補償、オフセット調整、デスキュー、コモンモードノイズ除去。 
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