半導体ソリューション
- 設計とシミュレーション
- デバイスモデリング
- IPマネジメント
- ウェーハテスト
- デバイステスト
高速で正確なマルチドメインシミュレーションソリューションにより、半導体設計と性能を最適化します。
RF回路設計とシミュレーション
統合されたレイアウト、EM、および回路シミュレーションにより、RF回路設計を加速します。
電熱設計
電気的および熱的結合効果をシミュレートして、半導体の信頼性と性能を最適化します。
三次元電磁界シミュレーション
複雑な3D半導体構造における電磁界効果をシミュレートし、正確な設計検証を実現します。
RFICおよびMMICシミュレーション
スケーラブルでファウンドリ認定済みのシミュレーションフローで、RFICおよびMMIC設計を合理化します。
RFシンセシス
迅速かつ正確な半導体設計のために、RFおよびマイクロ波回路合成を自動化します。
ウェハー 特性評価 ウェハー
半導体デバイス評価のためのウェーハレベル測定を効率化します。
3Dヘテロジニアス統合とチップレット
完全な EM 精度で高度な 3D ヘテロジニアス・インテグレーションおよびチップレット・アーキテクチャをモデリングします。
フォトニックシミュレーション
半導体アプリケーション向けにフォトニックデバイスおよび集積回路を設計および最適化します。
超伝導量子回路シミュレーション
正確な超伝導量子回路の設計のために、フラックス量子化型ジョセフソン接合回路のモデル化とシミュレーションを行う。
半導体デバイスの特性評価、パラメータ抽出、およびモデル検証を自動化し、正確で信頼性の高いモデルをより迅速に作成します。
デバイスモデリング自動化
半導体デバイスの特性評価とコンパクトモデル生成を自動化します。
シリコンデバイスモデリング
先進的なシリコン半導体デバイス向けSPICEモデルの抽出、最適化、検証。
SPICEモデル品質保証
半導体SPICEモデルを検証し、精度と一貫性を確保します。
光検出器のモデル最適化
ファウンドリプロセスの正確なシミュレーションを行うため、測定データに基づいてシリコンフォトニクスPIN光検出器モデルを最適化する。
デバイスモデルのパラメータ抽出
機械学習を活用してデバイスモデルのパラメータ抽出と再センタリングを自動化し、より迅速で再現性の高いモデル開発を実現します。
効率を向上させ、設計の整合性を確保するため、半導体IPおよび設計データの一元化、追跡、共同作業を可能にします。
設計データ管理
一元化されたバージョン管理で半導体設計データを制御および追跡します。
IPマネジメント
安全なストレージと制御されたアクセスにより、半導体IPのライフサイクルを管理します。
ビジュアルデザインマネジメント
チームコラボレーションを向上させるため、半導体設計データの一元化と追跡を行います。
モーション制御、フォトニクス、およびパラメトリック測定を用いて、高スループットのウェハーテストを実行します。
シリコンフォトニクスウェハー
統合された光/電気試験により、ウェハーレベルでフォトニック半導体デバイスを特性評価。
基礎パラメトリパラメトリックテストテスト
高精度で構成可能なテストソリューションにより、必須の半導体パラメータを測定します。
オンウェーハRFおよびサブTHz特性評価
ミリ波およびサブTHz周波数帯における先進的な半導体デバイスの特性評価を行います。高精度なオンウェーハSパラメータおよびデバイス測定を実行し、次世代のRF、5G/6G、車載レーダー、高周波技術を検証します。
シリコンフォトニクス電気光学的特性評価
高精度な電気光学的特性評価により、シリコンフォトニクスの開発を加速します。電気光学的Sパラメータを含む光学的および電気的パフォーマンスを測定し、高速フォトニックデバイスおよびコンポーネントを検証します。
パラメパラメトリックテストックテスト
並列パラメトリック測定により、半導体テストのスループットを向上させます。
モーションコントロール
ウェハー・プロービングおよび半導体デバイス試験のアライメント向けに高精度モーション制御を実現。
コア測定からシステムレベルの機能まで、すべての設計において精度、信頼性、高速動作を確保します。
二重パルス試験
ダブルパルス試験により、ダイナミックパワー半導体デバイスを特性評価。
パラメトリックテスト
半導体向けのパラメトリックテスト/信頼性および特性評価テストを満たす高精度を提供します。
低周波数ノイズ解析
低周波ノイズを解析し、半導体の信頼性を評価するソフトウェアで、PathWave WaferProと統合されています。
不揮発性メモリデバイス特性評価
高精度な電流-電圧（I-V）測定および過渡測定により、最先端の不揮発性メモリデバイスの特性評価を行います。
メモリ解析
ロジック解析により、半導体DDR5メモリのパフォーマンスとタイミングを解析します。
PCI Express®およびCXLの検証
物理層からプロトコルに至るまで、PCIeおよびCXLの半導体設計を検証します。
ウェーハから量産に至るまで、RFおよびミリ波ICの検証を加速します。
高速SerDes / PAM4レシーバテスト
次世代のデータレートに向けた高速SerDesレシーバを検証します。
MIPI® C-PHY℠およびD-PHY℠の検証
高速モバイル、車載、および組み込みアプリケーション向けのMIPIインターフェースを検証します。
低消費電力ICの特性評価
低消費電力の半導体デバイスおよびICを正確に特性評価する。
USB4 / 高速インターフェースの検証
トランスミッタからレシーバに至るまで、USB4および高速インターフェースの設計を検証します。
半導体教育ラボソリューションをご覧ください。
キーサイトの半導体教育ラボが、教育者が半導体分野の卒業生を迅速に社会で活躍できるよう支援する方法について説明します。
キーサイトのUU102LABソリューションが、大学が半導体業界で即戦力となる卒業生を育成するのにどのように役立つかをご覧ください。
キーサイトのUU103LABソリューションが、大学がフォトニックICの測定およびテストにおいて、業界で即戦力となる卒業生を育成する方法について説明します。
今日のチップイノベーターを明日へ導く
包括的な半導体教育ラボソリューションは、学生を実社会での設計、ウェハーレベルのテスト、およびフォトニクス統合の現場に没入させることで、より迅速なイノベーションを実現する力を養います。
半導体ユースケースを見る
半導体リソースをご覧ください。
ホワイトペーパー
半導体チップ特性評価
パッケージング前のパワー半導体ベアチップ特性評価ソリューションを見る
ラーニングハブ
マルチテクノロジーRFアセンブリを統合し、半導体パラメトリックテストを実行し、ワイドバンドギャップ高出力半導体測定技術を探求します。その方法をご覧ください。
電子書籍
GaN半導体デバイスのモデリング方法を学ぶ。
ブローシャー
シミュレーションから検証、実験に至るまでのあらゆる提案を取り入れ、半導体／ICの教育用ラボをセットアップします。
電子書籍
半導体IPは、システムオンチップ（SoC）設計へのモジュラーアプローチを可能にします。効果的なIP管理のための6つのステップを探ります。
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