高速で正確なマルチドメインシミュレーションソリューションにより、半導体設計と性能を最適化します。
デバイスモデリングを自動化し、SPICEモデルを検証し、ウェハーレベルの特性評価を効率化することで、より迅速で正確な半導体設計を実現します。
効率を向上させ、設計の整合性を確保するため、半導体IPおよび設計データの一元化、追跡、共同作業を可能にします。
モーション制御、フォトニクス、およびパラメトリック測定を用いて、高スループットのウェハーテストを実行します。
コア測定からシステムレベルの機能まで、すべての設計において精度、信頼性、高速動作を確保します。
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