半導体ソリューション

半導体イノベーションを推進するトレンドと技術を説明するハブ・アンド・スポーク方式の図解。

設計とテスト半導体 ウェハー 半導体

あらゆるデバイスのモデリング、検証、最適化を行うツールを活用して、次世代の半導体イノベーションを推進します。IP管理からウェーハ、パラメトリック、機能テストまで、キーサイトはより迅速でスマートな設計と信頼性の高いパフォーマンスを実現します。

半導体教育ラボソリューションをご覧ください。

基本設計と計測

基本設計と測定

キーサイトの半導体教育ラボが、教育者が半導体分野の卒業生を迅速に社会で活躍できるよう支援する方法について説明します。

パラメトリック試験およびウェハー上測定

パラメトリックテストおよびオンウェハー測定

キーサイトのUU102LABソリューションが、大学が半導体業界で即戦力となる卒業生を育成するのにどのように役立つかをご覧ください。

フォトニクスICの測定

フォトニクスIC測定

キーサイトのUU103LABソリューションが、大学がフォトニックICの測定およびテストにおいて、業界で即戦力となる卒業生を育成する方法について説明します。

宇宙の衛星

今日の取り組みで未来のチップイノベーターを育成

包括的な半導体教育ソリューションは、学生を実世界の設計、ウェハレベルテスト、およびフォトニック集積に没頭させることで、より迅速なイノベーションを可能にします。

半導体ユースケースを見る

電圧測定

LED IV特性評価

光テスト用にSMUの2チャネルを使用し、1つのチャネルでフォトダイオード電流を測定し、もう1つのチャネルでLEDを駆動して、LEDの基本的なIVパラメータをテストします。

電力測定

ダブルパルス試験ソリューション

JEDEC仕様に準拠するため、ワイドバンドギャップパワー半導体の動特性の信頼性が高く、再現性のある測定を実行します。

インサーキットテスト

PCBAチップセットテストの実行

プリント基板アセンブリ（PCBA）チップセットのテストには、正確で信頼性の高いテストを保証するために、バウンダリスキャンテストが必要です。

集積回路

低消費電力IC特性評価ソリューション

極めて低い電流および電圧レベルで、さまざまな動作条件下でIV特性評価を実施することにより、回路設計を検証します。

パワーモジュール

半導体パワーモジュールのテスト

真のパルス‑絶縁プローブテクノロジーを使用して、WBGパワーモジュールの特性評価を加速します。

半導体リソースをご覧ください。

半導体アイコン

ホワイトペーパー

半導体チップ特性評価

パッケージング前のパワー半導体ベアチップ特性評価ソリューションを見る

パワー半導体ベア特性評価 動的特性評価 と題するホワイトペーパーを表示するタブレット

ラーニングハブ

半導体学習ハブ

マルチテクノロジーRFアセンブリを統合し、半導体パラメトリックテストを実行し、ワイドバンドギャップ高出力半導体測定技術を探求します。その方法をご覧ください。

電子書籍

半導体デバイス・モデリング

GaN半導体デバイスのモデリング方法を学ぶ。

ブローシャー

IC設計とテスト

シミュレーションから検証、実験に至るまで、あらゆる側面に関する提案を盛り込みながら、半導体・ICの教育用実験室を整備する。

電子書籍

シリコンIPがSoC設計の基盤となった理由

半導体IPは、システムオンチップ（SoC）設計へのモジュラーアプローチを可能にします。効果的なIP管理のための6つのステップを探ります。

次の課題を解決しましょう。

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