Halbleiterlösungen
- Entwurf und Simulation
- Modellierung von Geräten
- IP-Verwaltung
- Wafer-Test
- Gerätetest
Optimieren Sie Halbleiterdesign und -leistung mit schnellen, präzisen Multidomänen-Simulationslösungen.
Entwurf und Simulation von HF-Schaltungen
Beschleunigen Sie den Entwurf von HF-Schaltungen mit integrierter Layout-, EM- und Schaltungssimulation.
HF-Synthese
Automatisieren Sie die HF- und Mikrowellenschaltungssynthese für ein schnelles und präzises Halbleiterdesign.
3D-heterogene Integration und Chiplets
Modellieren Sie erweiterte heterogene 3D-Integrations- und Chiplet-Architekturen mit voller EM-Genauigkeit.
Elektrothermisches Design
Simulieren Sie gekoppelte elektrische und thermische Effekte, um die Zuverlässigkeit und Leistung von Halbleitern zu optimieren.
3D-EM-Simulation
Simulieren Sie elektromagnetische Effekte in komplexen 3D-Halbleiterstrukturen für eine genaue Designvalidierung.
RFIC- und MMIC-Simulation
Optimieren Sie das RFIC- und MMIC-Design mit skalierbaren, gießereizertifizierten Simulationsabläufen.
Simulation supraleitender Quantenschaltkreise
Validieren Sie supraleitende Quantenalgorithmen und -Hardware mit hochpräziser Simulation auf Schaltungsebene.
Photonische Simulation
Entwerfen und optimieren Sie photonische Geräte und integrierte Schaltkreise für Halbleiteranwendungen.
Automatisieren Sie die Gerätemodellierung, validieren Sie SPICE-Modelle und optimieren Sie die Charakterisierung auf Waferebene für ein schnelleres und präziseres Halbleiterdesign.
Automatisierung der Gerätemodellierung
Automatisieren Sie die Gerätecharakterisierung und die kompakte Modellgenerierung für Halbleiter.
Modellierung von Siliziumbauteilen
Extrahieren, optimieren und validieren Sie SPICE-Modelle für fortschrittliche Silizium-Halbleiterbauelemente.
SPICE-Modell QA
Validieren Sie Halbleiter-SPICE-Modelle, um Genauigkeit und Konsistenz sicherzustellen.
Wafer-Charakterisierungstest
Optimieren Sie Messungen auf Waferebene zur Bewertung von Halbleiterbauelementen.
Zentralisieren, verfolgen und bearbeiten Sie Halbleiter-IP und Designdaten gemeinsam, um die Effizienz zu verbessern und die Designintegrität sicherzustellen.
Verwaltung von Konstruktionsdaten
Steuern und verfolgen Sie Halbleiterdesigndaten mit zentraler Versionsverwaltung.
IP-Verwaltung
Verwalten Sie die Lebenszyklen von Halbleiter-IP mit sicherer Speicherung und kontrolliertem Zugriff.
Visuelles Design Management
Zentralisieren und verfolgen Sie Halbleiterdesigndaten für eine verbesserte Teamzusammenarbeit.
Führen Sie Hochdurchsatz-Wafertests mit Bewegungssteuerung, Photonik und parametrischen Messungen durch.
Silizium-Photonik-Wafer-Test
Charakterisieren Sie photonische Halbleiterbauelemente auf Waferebene mit integrierten optischen/elektrischen Tests.
Grundlegender parametrischer Test
Messen Sie wichtige Halbleiterparameter mit präzisen, konfigurierbaren Testlösungen.
Paralleler parametrischer Test
Steigern Sie den Durchsatz bei Halbleitertests mit parallelen parametrischen Messungen.
Bewegungssteuerung
Ermöglicht eine präzise Bewegungssteuerung für die Waferprüfung und Testausrichtung von Halbleiterbauelementen.
Gewährleisten Sie Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Hochgeschwindigkeitsbetrieb für jedes Design, von Kernmessungen bis hin zur Funktionalität auf Systemebene.
Doppel-Impuls-Test
Charakterisieren Sie dynamische Leistungshalbleiterbauelemente mit Doppelimpulstests.
Parametrischer Test
Liefern Sie Präzision, um parametrische Tests/Zuverlässigkeits- und Charakterisierungstests für Halbleiter zu erfüllen.
Analyse von tieffrequentem Lärm
Analysieren Sie niederfrequentes Rauschen und bewerten Sie die Zuverlässigkeit von Halbleitern mit einer Software, die in PathWave WaferPro integriert ist.
Analyse der Wellenform des Gerätestroms
Identifizieren und analysieren Sie intermittierende anomale Signale und Ereignisse in der Wellenform, die bei einer manuellen Analyse nicht möglich sind.
MIPI® D-PHY℠ Konformitätsprüfung
Überprüfen Sie die Konformität von MIPI D-PHY-Sendern für Mobil- und Chipanwendungen.
Speicheranalyse
Analysieren Sie die Leistung und das Timing von Halbleiterspeichern mit einer Logikanalyse.
Erkennen Sie elektrische und strukturelle Defekte in modernen Halbleitergehäusen.
Anwendungsfälle für Halbleiter erkunden
Entdecken Sie Halbleiterressourcen
White Paper
Halbleiterchip-Charakterisierung
Entdecken Sie Lösungen zur Charakterisierung von Leistungshalbleiter-Bare-Chips vor der Verpackung.
Lernzentrum
Integrieren Sie HF-Baugruppen mit mehreren Technologien, führen Sie parametrische Halbleitertests durch und erkunden Sie Messtechniken für Hochleistungshalbleiter mit großer Bandlücke. Erfahren Sie, wie.
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Erfahren Sie, wie Sie GaN-Halbleiterbauelemente modellieren.
Broschüren
Richten Sie ein Halbleiter-/IC-Lehrlabor mit Vorschlägen zu allen Themen ein, von der Simulation bis zur Validierung und zu Experimenten.
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Halbleiter-IP ermöglicht einen modularen Ansatz für das System-on-a-Chip-Design (SoC). Entdecken Sie 6 Schritte zum effektiven IP-Management.
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