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Obtenga información más rápida y clara con nuestro nuevo osciloscopio multinúcleo de 12 bits y hasta 33 GHz.
Emule cada parte de la infraestructura de su centro de datos. Emule cualquier cosa. Optimice todo.
Acelere las pruebas de análisis de señales con el software VSA de Keysight. Visualice, demodule y solucione problemas con más de 75 estándares de señal con precisión.
Con memoria y almacenamiento adicionales, estos NPB mejorados ejecutan el software de seguridad y supervisión del rendimiento de IA de Keysight y la pila de IA.
Realice pruebas rápidas y precisas a nivel de placa con un ICT en línea y fuera de línea robusto, diseñado para la fabricación moderna.
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Detecte con precisión las interferencias con el software de gestión del espectro de posprocesamiento en el laboratorio.
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El analizador de parámetros de dispositivos semiconductores B1500A de Keysight es una solución completa de caracterización de dispositivos que admite funciones de medición versátiles para IV, CV y medición IV pulsada rápida de vanguardia con una fiabilidad de medición sin concesiones.
Maximum output current
1 A DC / 3 A pulse
Minimum current measurement resolution
0.1 fA
Number of channels
10
Descubra qué incluye y explore las opciones de actualización disponibles de Keysight.
Bibliotecas de aplicaciones listas para usar
| Tipo de dispositivo | Pruebas de aplicación |
| Transistor CMOS | Id-Vg, Id-Vd, Vth, avería, capacitancia y QSCV |
| Transistor bipolar | Ic-Vc, diodo, gráfico de Gummel, ruptura, capacitancia y más. |
| Dispositivo discreto | Id-Vg, Id-Vd, Ic-Vc, diodo y más |
| Memoria | V, capacitancia, prueba de resistencia |
| Dispositivo de potencia | Id-Vg pulsado, Id-Vd pulsado, ruptura |
| Dispositivo nano | Resistencia, Id-Vg, Id-Vd, Ic-Vc |
| Prueba de fiabilidad | NBTI/PBTI, bombeo de carga, electromigración, inyección de portadores calientes, J-Ramp, TDDB, y más. |
Potentes capacidades de EasyEXPERT group+
| Capacidades de medición | Barrido de escalera, barrido multicanal, barrido por impulsos, muestreo IV, muestreo IV de alta velocidad, CV, C-t, C-f, etc. |
| Control de matriz de conmutación | Se admiten B2200, B2201 y E5250 (tarjeta E5252). |
| Capacidades de análisis y visualización de datos | Visualización de listas, gráfico X-Y (con marcador, cursor y línea), función de análisis automático, función de usuario y mucho más. |
| Gestión de datos | Gestión del espacio de trabajo del usuario, guardar/recuperar datos de medición y configuración con función de registro automático. |
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Obtenga suscripciones predecibles basadas en arrendamiento y soluciones completas de gestión del ciclo de vida, para que pueda alcanzar sus objetivos empresariales más rápidamente.
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Asegúrese de que su sistema de pruebas funcione según las especificaciones y cumpla con las normas locales y globales.
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