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As matrizes de comutação de baixo vazamento da Keysight são projetadas para testes automatizados de semicondutores que exigem medição de corrente ultrabaixa e alto desempenho de isolamento. Projetadas para manter a integridade do sinal em níveis de femtoamp, essas matrizes de comutação permitem a comutação contínua entre vários dispositivos ou nós de teste sem comprometer a precisão da medição. Com configurações flexíveis, formatos compactos e fácil integração com os analisadores da Keysight, elas são ideais para testes paramétricos, estudos de confiabilidade e caracterização em nível de wafer. Solicite hoje mesmo uma cotação para uma de nossas configurações populares.Precisa de ajuda para selecionar? Confira os recursos abaixo.
Mantenha a integridade das medições de corrente ultrabaixa com caminhos de comutação projetados para minimizar o vazamento, ideais para medições de precisão em materiais semicondutores avançados.
Acomoda configurações de teste complexas com contagem de canais escalável de até 48 saídas, suportando dispositivos multipinos e matrizes de teste automatizadas em configurações em nível de wafer.
Garanta a precisão em testes CV de alta impedância com caminhos de compensação de capacitância dedicados que reduzem a distorção em medições de dispositivos sensíveis.
Combine facilmente com analisadores de parâmetros e sistemas de teste de dispositivos semicondutores, controlados por meio de interfaces de software intuitivas para rotinas de comutação automatizadas.
Resolução Mínima de Medição de Corrente
1 fA até 20 fA
Maximum output ports
48 até 96
Isolation
10 TΩ até 100 TΩ
B2201A
O mainframe com comutador de baixo vazamento Keysight B2201A reduz o custo dos testes por meio da automação dos testes de caracterização.
O mainframe de baixo vazamento Keysight B2201A reduz o custo dos testes, permitindo testes de caracterização automatizados. Ele suporta uma configuração de quatro SMUs, Kelvin completo e um medidor de capacitância, com espaço para expansão futura. O mainframe de baixo vazamento B2201A possui 14 entradas internas exclusivas para medição de caminho e um recurso distinto de compensação de medição de capacitância para duas das entradas. O painel frontal permite o controle por meio do teclado ou da caneta óptica opcional.
Características
Capacidades de medição
B2200A
Uma matriz de comutação de alto desempenho, localizada entre o analisador de parâmetros de semicondutores e o wafer, reduz o custo do teste por meio da automação do teste de caracterização.
O mainframe do interruptor de fuga fA Keysight B2200A reduz o custo do teste, permitindo testes de caracterização automáticos sem comprometer o desempenho de medição do analisador de parâmetros de semicondutores. Ele suporta uma unidade de medição de quatro fontes com uma configuração Kelvin e um medidor de capacitância — deixando espaço para expansão futura.
E5250A
O Mainframe de Switch de Baixo Vazamento E5250A fornece módulos plug-in para integrar medições CV-IV com um sistema de medição automatizado para testes de confiabilidade de longo prazo.
O mainframe de comutação de baixo vazamento Keysight E5250A expande uma única estação de medição, como o Keysight B1500A, 4155C ou 4156C, para um sistema de medição automatizado. Os módulos plug-in podem ser configurados como uma matriz de pontos cruzados para medições paramétricas gerais ou como um multiplexador para medições de confiabilidade de longo prazo.
Quando configurado como um multiplexador de 24 (8 x 3) canais, o E5250A é ideal para medições de confiabilidade de longo prazo com sua capacidade de 384 canais e recursos avançados normalmente encontrados apenas em dispositivos de entrada maiores e mais caros. Isso permite que fontes de alimentação baratas sejam usadas para estresse consistente.
O grande número de canais e fontes de estresse de baixo custo permitem o teste eficiente de centenas de dispositivos em paralelo, economizando custos e tempo e alcançando resultados precisos e consistentes.
Comutador matricial 10 x 12 para medições paramétricas gerais
Multiplexador de 24 (8 x 3) canais para testes de confiabilidade
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Uma matriz de comutação de baixo vazamento é um sistema especializado de roteamento de sinal projetado para conectar instrumentos de precisão, como unidades de medição de fonte (SMUs), medidores LCR ou unidades de medição de capacitância a vários terminais de dispositivos de maneira altamente controlada e eletricamente isolada. Esses sistemas são otimizados para medições de alta impedância e comutação de corrente ultrabaixa, normalmente na faixa de femtoamp (fA). A matriz permite a automação perfeita de testes de dispositivos multipinos, sondagem de wafer e análise de confiabilidade sem comprometer a integridade do sinal necessária para medições IV ou CV sensíveis. Ao permitir a comutação autônoma entre os pinos do dispositivo, uma matriz de comutação de baixo vazamento minimiza a necessidade de reconexões manuais, reduzindo assim os erros de medição, o risco de contaminação e o tempo de teste.
A corrente de fuga pode introduzir erros significativos ao medir sinais ultrapequenos, particularmente em dispositivos semicondutores avançados ou dimensionados, como óxidos de porta, camadas de passivação, dielétricos finos e materiais novos, como semicondutores orgânicos ou materiais 2D. Nesses contextos, as correntes alvo podem ser da ordem de femtoampères ou picoampères, e mesmo uma fuga minúscula através de relés de comutação, cabos ou conectores pode distorcer os resultados. Alta resistência de isolamento (normalmente >100 TΩ), baixa absorção dielétrica e proteção otimizada são essenciais para manter a pureza do sinal. Matrizes de comutação de baixo vazamento são construídas com substratos de Teflon ou cerâmica, caminhos triaxiais protegidos e designs de relés especializados para suprimir caminhos de corrente parasitas e manter a integridade dessas medições delicadas.
As matrizes de comutação de baixo vazamento são normalmente integradas a sistemas de teste paramétrico, analisadores de dispositivos semicondutores e testadores de wafer para caracterização elétrica automatizada. Cada canal da matriz conecta os terminais do dispositivo aos instrumentos de forma programável por meio de software, permitindo uma rápida reconfiguração durante as sequências de teste. Essa integração suporta rotinas de teste avançadas, como sensoriamento Kelvin, medições diferenciais e varreduras IV/CV multiterminais. A matriz é frequentemente controlada por meio de comandos SCPI, software baseado em GUI (como EasyEXPERT) ou estruturas de automação em ambientes de alto rendimento. Recursos como comutação de ponto cruzado, mapeamento de matriz de relé e atuação de alta velocidade permitem uma coordenação perfeita entre os instrumentos de comutação e medição, minimizando o tempo ocioso e maximizando o rendimento durante os testes em nível de wafer ou a análise de confiabilidade.
Vários parâmetros críticos influenciam a seleção de uma matriz de comutação adequada para aplicações em semicondutores:
O design do relé e da blindagem é fundamental para a capacidade de uma matriz de comutação manter caminhos de sinal de alta fidelidade. Os relés eletromecânicos em matrizes de baixo vazamento são selecionados por sua alta resistência de isolamento, baixa capacitância parasita e baixa absorção dielétrica. Muitos sistemas usam relés reed envoltos em vidro hermeticamente selado para minimizar a contaminação e melhorar a estabilidade a longo prazo. Além disso, técnicas de blindagem, como proteções acionadas, cabos triaxiais e caminhos de sinal isolados, protegem medições sensíveis contra interferências externas e loops de terra. Os layouts internos de PCB geralmente incluem planos de terra e traços de proteção para controlar caminhos de vazamento e acoplamento de sinal. A blindagem adequada garante que a própria matriz não se torne uma fonte de erro, especialmente ao medir nós de alta impedância ou realizar caracterização CV em baixas frequências.