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무엇을 찾고 있습니까?
3D Interconnect Designer는 칩렛, 스택형 다이, 패키지 및 PCB를 포함한 모든 고급 인터커넥트 구조를 위한 유연한 모델링 및 최적화 환경을 제공합니다.
설계 및 검증 결정을 가속화하기 위한 신뢰할 수 있는 애플리케이션 노트, 데이터 시트, 레퍼런스 디자인 및 테스트 절차.
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제품 요구 사항을 지원하는 추가 콘텐츠
키사이트 저누설 스위치 매트릭스는 초저전류 측정 및 고절연 성능이 요구되는 자동화된 반도체 테스트를 위해 설계되었습니다. 페르토암페어 수준에서 신호 무결성을 유지하도록 설계된 이 스위치 매트릭스는 측정 정확도를 저하시키지 않으면서 여러 디바이스 또는 테스트 노드 간에 원활한 스위칭을 가능하게 합니다. 유연한 구성, 컴팩트한 폼 팩터, 키사이트 분석기와의 손쉬운 통합을 통해 파라미터 테스트, 신뢰성 연구 및 웨이퍼 레벨 특성화에 이상적입니다. 오늘 인기 있는 구성 중 하나에 대한 견적을 요청하십시오. 선택에 도움이 필요하십니까? 아래 리소스를 확인하십시오.
누설을 최소화하도록 설계된 스위치 경로를 통해 초저전류 측정의 무결성을 유지하며, 첨단 반도체 재료의 정밀 측정에 이상적입니다.
최대 48개 출력의 확장 가능한 채널 수를 통해 복잡한 테스트 구성을 수용하며, 웨이퍼 레벨 설정에서 멀티핀 디바이스 및 자동화된 테스트 매트릭스를 지원합니다.
민감한 디바이스 측정에서 왜곡을 줄이는 전용 커패시턴스 보상 경로를 통해 고임피던스 CV 테스트에서 정확성을 보장하십시오.
파라미터 분석기 및 반도체 디바이스 테스트 시스템과 쉽게 결합할 수 있으며, 자동화된 스위칭 루틴을 위해 직관적인 소프트웨어 인터페이스를 통해 제어됩니다.
최소 전류 측정 분해능
1 fA ~ 20 fA
Maximum output ports
48 ~ 96
Isolation
10 TΩ ~ 100 TΩ
키사이트 B2201A 저누출 메인프레임은 자동화된 특성화 테스트를 지원하여 테스트 비용을 절감합니다. 4-SMU, 풀 Kelvin 구성 및 커패시턴스 미터를 지원하므로 향후 확장이 용이합니다. B2201A 저누출 메인프레임은 14개의 고유 내부 경로 측정 입력과 고유한 커패시턴스 측정 보상 기능(두 개의 입력용)을 제공합니다. 키패드 또는 선택 품목인 라이트 펜을 통해 전면 패널을 제어할 수 있습니다.
특징
측정 기능
B2200A
B2200A fA 누설 스위치 메인프레임은 측정 성능을 저하시키지 않으면서 자동 특성 테스트를 지원하므로 테스트 비용을 절감할 수 있습니다.
키사이트 B2200A fA 누출 스위치 메인프레임은 반도체 파라미터 분석기의 측정 성능을 훼손하지 않고 자동 특성화 테스트를 지원하므로 테스트 비용이 절감됩니다. Kelvin 구성과 커패시턴스 미터를 사용하여 4개 소스 측정 장치를 지원하므로 향후 확장이 용이합니다.
E5250A
E5250A 저누출 스위치 메인프레임은 장기적인 신뢰성 테스트를 위한 자동화된 측정 시스템과 CV-IV 측정을 통합하는 플러그인 모듈을 제공합니다.
키사이트 E5250A 저누출 스위치 메인프레임은 키사이트 B1500A, 4155C 또는 4156C와 같은 단일 측정 스테이션을 자동화된 측정 시스템으로 확장합니다. 플러그인 모듈은 일반 파라메트릭 측정을 위한 교차 지점 매트릭스 또는 장기적인 신뢰성 측정을 위한 멀티플렉서로 구성할 수 있습니다.
24(8 x 3) 채널 멀티플렉서로 구성할 경우, E5250A는 보통 더 비시한 입력 디바이스에서만 제공되는 고급 기능과 384 채널 역량으로 장기적인 신뢰도 측정에 적합합니다. 따라서 일관된 스트레스를 가하는 데 저가형 전원 공급기를 사용할 수 있습니다.
많은 수의 채널과 저비용 스트레스 소스를 사용하면 수백 개의 디바이스를 효율적으로 병렬로 테스트할 수 있어 비용과 시간이 절약되고 정확하고 일관된 결과를 얻을 수 있을 수 있습니다.
일반적인 파라메트릭 측정을 위한 10 x 12 매트릭스 스위치
신뢰도 테스트를 위한 24(8 x 3) 채널 멀티플렉서
엄선된 지원 플랜과 우선적인 응답 및 처리 시간을 통해 빠르게 혁신하십시오.
예측 가능한 리스 기반 구독 및 전체 수명 주기 관리 솔루션을 통해 비즈니스 목표를 더 빠르게 달성하십시오.
KeysightCare 구독자로서 향상된 서비스를 경험하고 전담 기술 지원 및 더 많은 혜택을 받으세요.
테스트 시스템이 사양에 따라 작동하고 현지 및 글로벌 표준을 충족하는지 확인하십시오.
사내 강사 주도 교육 및 이러닝을 통해 신속하게 측정하십시오.
키사이트 소프트웨어를 다운로드하거나 최신 버전으로 업데이트하십시오.
저누설 스위치 매트릭스는 SMU(Source Measure Unit), LCR 미터 또는 정전 용량 측정 장치와 같은 정밀 기기를 여러 디바이스 터미널에 고도로 제어되고 전기적으로 절연된 방식으로 연결하도록 설계된 특수 신호 라우팅 시스템입니다. 이 시스템은 고임피던스 측정 및 일반적으로 페르토암페어(fA) 범위의 초저전류 스위칭에 최적화되어 있습니다. 이 매트릭스는 민감한 IV 또는 CV 측정에 필요한 신호 무결성을 손상시키지 않으면서 다중 핀 디바이스 테스트, 웨이퍼 프로빙 및 신뢰성 분석을 원활하게 자동화할 수 있습니다. 디바이스 핀 간의 무인 스위칭을 가능하게 함으로써 저누설 스위치 매트릭스는 수동 재연결의 필요성을 최소화하여 측정 오류, 오염 위험 및 테스트 시간을 줄입니다.
누설 전류는 초소형 신호를 측정할 때 상당한 오류를 발생시킬 수 있으며, 특히 게이트 산화물, 패시베이션 층, 박막 유전체, 유기 반도체 또는 2D 재료와 같은 첨단 또는 스케일링된 반도체 디바이스에서 그렇습니다. 이러한 환경에서는 목표 전류가 펨토암페어 또는 피코암페어 수준일 수 있으며, 스위치 릴레이, 케이블 또는 커넥터를 통한 미세한 누설조차도 결과를 왜곡할 수 있습니다. 높은 절연 저항(일반적으로 >100 TΩ), 낮은 유전 흡수, 최적화된 가드(guarding)는 신호 순도를 유지하는 데 필수적입니다. 저누설 스위치 매트릭스는 테플론 또는 세라믹 기판, 가드 처리된 트라이액셜 경로, 특수 릴레이 설계로 구성되어 기생 전류 경로를 억제하고 이러한 정밀 측정의 무결성을 유지합니다.
낮은 누설 스위치 매트릭스는 일반적으로 자동화된 전기적 특성화를 위해 파라메트릭 테스트 시스템, 반도체 디바이스 분석기 및 웨이퍼 프로버와 통합됩니다. 각 매트릭스 채널은 소프트웨어를 통해 프로그래밍 방식으로 디바이스 터미널을 계측기에 연결하여 테스트 시퀀스 동안 빠른 재구성을 가능하게 합니다. 이러한 통합은 켈빈 감지, 차동 측정 및 다중 터미널 IV/CV 스윕과 같은 고급 테스트 루틴을 지원합니다. 매트릭스는 고처리량 환경에서 SCPI 명령, GUI 기반 소프트웨어(예: EasyEXPERT) 또는 자동화 프레임워크를 통해 제어되는 경우가 많습니다. 크로스포인트 스위칭, 릴레이 매트릭스 매핑 및 고속 작동과 같은 기능은 스위칭 및 측정 계측기 간의 원활한 조정을 허용하여 웨이퍼 레벨 테스트 또는 신뢰성 분석 중에 유휴 시간을 최소화하고 처리량을 최대화합니다.
반도체 애플리케이션용 적절한 스위치 매트릭스 선택에 영향을 미치는 몇 가지 중요한 매개변수는 다음과 같습니다.
릴레이 및 차폐 설계는 스위치 매트릭스가 고충실도 신호 경로를 유지하는 능력의 핵심입니다. 낮은 누설 매트릭스의 전기 기계식 릴레이는 높은 절연 저항, 낮은 부유 커패시턴스 및 낮은 유전 흡수 특성 때문에 선택됩니다. 많은 시스템은 오염을 최소화하고 장기 안정성을 향상시키기 위해 밀봉된 유리로 둘러싸인 리드 릴레이를 사용합니다. 또한 구동 가드, 트라이액셜 케이블 및 절연 신호 경로와 같은 차폐 기술은 민감한 측정을 외부 간섭 및 접지 루프로부터 보호합니다. 내부 PCB 레이아웃에는 누설 경로 및 신호 커플링을 제어하기 위해 접지면과 가드 트레이스가 포함되는 경우가 많습니다. 적절한 차폐는 매트릭스 자체가 오류의 원인이 되지 않도록 보장하며, 특히 고임피던스 노드를 측정하거나 낮은 주파수에서 CV 특성화를 수행할 때 중요합니다.