Como reduzir o autoaquecimento em testes com VCSELs

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Reduzir o autoaquecimento durante os testes de VCSEL

A caracterização do laser de emissão superficial em cavidade vertical (VCSEL) requer a aplicação de um pulso de corrente controlado, enquanto se mede a resposta elétrica e óptica do dispositivo. Para testes com pulsos estreitos, o pulso de corrente deve ser curto o suficiente para limitar o autoaquecimento, mantendo, ao mesmo tempo, a amplitude e o tempo de subida necessários. As medições de corrente e tensão são registradas durante o pulso para caracterizar o comportamento do dispositivo nas condições operacionais aplicadas.

O teste mede as formas de onda reais de corrente e tensão durante o pulso estreito, utilizando amostragem de alta velocidade. A saída de luz também pode ser medida por meio da corrente do fotodiodo sincronizada para a caracterização de Luz-Corrente-Tensão (LIV). As medições resultantes fornecem os dados elétricos e ópticos utilizados para determinar características como tensão direta, corrente de limiar, potência óptica, corrente do fotodiodo e eficiência de inclinação ou kink.

Solução de teste para VCSEL de pulso estreito

O teste de VCSELs de pulso estreito requer uma fonte de corrente capaz de gerar pulsos curtos e, ao mesmo tempo, capturar a resposta do dispositivo dentro da janela de medição do pulso. A Unidade de Fonte/Medição (SMU) PXIe de Precisão da Keysight oferece o Modo de Diodo Laser com tempo de subida rápido e pulsos de corrente com largura de até 10 µs. A medição de alta velocidade integrada, de até 15 MSa/s, captura o pulso de corrente real e a resposta dinâmica de corrente e tensão sem a necessidade de um instrumento adicional de captura de forma de onda. A solução também suporta geração de corrente pulsada de até 10,5 A, permitindo a caracterização de pulsos estreitos em uma ampla gama de dispositivos e matrizes VCSEL.
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Diagrama de blocos da solução de teste para VCSEL de pulso estreito

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