Comment réduire l'auto-échauffement lors des essais sur les VCSEL
Réduire l'auto-échauffement lors des essais sur les VCSEL
La caractérisation d'un laser à cavité verticale à émission par la surface (VCSEL) nécessite l'application d'une impulsion de courant contrôlée tout en mesurant la réponse électrique et optique du dispositif. Pour les essais avec des impulsions courtes, l'impulsion de courant doit être suffisamment courte pour limiter l'auto-échauffement tout en conservant l'amplitude et le temps de montée requis. Les mesures de courant et de tension sont enregistrées pendant l'impulsion afin de caractériser le comportement du dispositif dans les conditions de fonctionnement appliquées.
Le test mesure les formes d'onde réelles du courant et de la tension pendant l'impulsion étroite à l'aide d'un échantillonnage à haute vitesse. Le flux lumineux peut également être mesuré via le courant de la photodiode synchronisée pour la caractérisation « lumière-courant-tension » (LIV). Les mesures obtenues fournissent les données électriques et optiques utilisées pour déterminer des caractéristiques telles que la tension directe, le courant de seuil, la puissance optique, le courant de la photodiode, ainsi que le rendement de pente ou le « kink ».
Solution de test pour VCSEL à impulsion étroite
Schéma fonctionnel d'une solution de test pour VCSEL à impulsions courtes
Découvrez les produits de notre solution de test VCSEL à impulsions étroites
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Unité de mesure et de génération de signaux PXIe M9602A, 1 pA
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M9603A : Unité de source/mesure de précision PXIe, 100 fA
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