VCSEL 테스트 시 자가 발열을 줄이는 방법

모듈형 PXIe 정밀 SMU
+ 모듈형 PXIe 정밀 SMU

VCSEL 테스트 중 자체 발열 감소

수직 공진 표면 발광 레이저(VCSEL) 특성화에는 제어된 전류 펄스를 인가하는 동시에 디바이스의 전기적 및 광학적 응답을 측정하는 작업이 필요합니다. 좁은 펄스 테스트의 경우, 필요한 진폭과 상승 시간을 유지하면서 자체 발열을 제한할 수 있도록 전류 펄스가 충분히 짧아야 합니다. 인가된 작동 조건에서 디바이스 거동을 특성화하기 위해 펄스 동안 전류 및 전압 측정이 캡처됩니다.

이 테스트는 고속 샘플링을 사용하여 좁은 펄스 동안 실제 전류 및 전압 파형을 측정합니다. 광-전류-전압(LIV) 특성화를 위해 동기화된 포토다이오드 전류를 통해 광 출력을 측정할 수도 있습니다. 결과 측정값은 순방향 전압, 문턱 전류, 광 power, 포토다이오드 전류, 슬로프 효율 또는 kink 등의 특성을 결정하는 데 사용되는 전기 및 광학 데이터를 제공합니다.

협대역 펄스 VCSEL 테스트 솔루션

협폭 펄스 VCSEL 테스트에는 짧은 펄스를 생성하는 동시에 펄스 측정 윈도우 내에서 디바이스 응답을 캡처할 수 있는 전류 소스가 필요합니다. 키사이트 정밀 PXIe 소스/측정 장치(SMU)는 빠른 상승 시간과 10 µs만큼 짧은 전류 펄스를 갖춘 레이저 다이오드 모드를 제공합니다. 최대 15 MSa/s의 임베디드 고속 측정 기능은 추가적인 파형 캡처 장비 없이도 실제 전류 펄스와 동적 전류 및 전압 응답을 캡처합니다. 또한 이 솔루션은 최대 10.5 A의 펄스 전류 소싱을 지원하여 다양한 VCSEL 디바이스 및 어레이에 걸쳐 협폭 펄스 특성화를 구현할 수 있습니다.

협폭 펄스 VCSEL 테스트 솔루션 블록 다이어그램

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