Cómo reducir el autocalentamiento en las pruebas de VCSEL

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Reducir el autocalentamiento durante las pruebas de VCSEL

La caracterización de los láseres de cavidad vertical con emisión superficial (VCSEL) requiere aplicar un pulso de corriente controlado mientras se mide la respuesta eléctrica y óptica del dispositivo. Para las pruebas con pulsos cortos, el pulso de corriente debe ser lo suficientemente breve como para limitar el autocalentamiento, al tiempo que se mantienen la amplitud y el tiempo de subida requeridos. Durante el pulso se registran las mediciones de corriente y tensión para caracterizar el comportamiento del dispositivo en las condiciones de funcionamiento aplicadas.

La prueba mide las formas de onda reales de corriente y tensión durante el pulso estrecho mediante un muestreo de alta velocidad. La potencia óptica también se puede medir a través de la corriente del fotodiodo sincronizada para la caracterización de luz-corriente-tensión (LIV). Las mediciones resultantes proporcionan los datos eléctricos y ópticos que se utilizan para determinar características como la tensión directa, la corriente umbral, la potencia óptica, la corriente del fotodiodo y la eficiencia de pendiente o el punto de inflexión.

Solución de pruebas para VCSEL de pulso estrecho

Las pruebas de VCSEL de pulso estrecho requieren una fuente de corriente capaz de generar pulsos cortos y, al mismo tiempo, capturar la respuesta del dispositivo dentro de la ventana de medición del pulso. La unidad de fuente y medición (SMU) Precision PXIe de Keysight ofrece un modo de diodo láser con un tiempo de subida rápido y pulsos de corriente de tan solo 10 µs. La medición de alta velocidad integrada, con una frecuencia de hasta 15 MSa/s, captura el pulso de corriente real y la respuesta dinámica de corriente y tensión sin necesidad de un instrumento adicional de captura de formas de onda. La solución también admite una fuente de corriente pulsada de hasta 10,5 A, lo que permite la caracterización de pulsos estrechos en una amplia gama de dispositivos y matrices VCSEL.
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Diagrama de bloques de la solución de prueba del VCSEL de pulso estrecho

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