Come ridurre l'autoriscaldamento nei test sui VCSEL
Ridurre l'autoriscaldamento durante i test sui VCSEL
La caratterizzazione dei laser a emissione superficiale a cavità verticale (VCSEL) richiede l'applicazione di un impulso di corrente controllato, durante la misurazione della risposta elettrica e ottica del dispositivo. Per i test con impulsi stretti, l'impulso di corrente deve essere sufficientemente breve da limitare l'autoriscaldamento, mantenendo al contempo l'ampiezza e il tempo di salita richiesti. Durante l'impulso vengono acquisite le misurazioni di corrente e tensione per caratterizzare il comportamento del dispositivo nelle condizioni operative applicate.
Il test misura le forme d'onda effettive di corrente e tensione durante l'impulso stretto mediante campionamento ad alta velocità. È inoltre possibile misurare l'emissione luminosa attraverso la corrente del fotodiodo sincronizzato per la caratterizzazione luce-corrente-tensione (LIV). Le misurazioni ottenute forniscono i dati elettrici e ottici utilizzati per determinare caratteristiche quali la tensione diretta, la corrente di soglia, la potenza ottica, la corrente del fotodiodo e l'efficienza di pendenza o kink.
Soluzione di test per VCSEL a impulso stretto
Schema a blocchi della soluzione di test per VCSEL a impulso stretto
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Unità di misura e generazione di segnali PXIe M9602A, 1 pA
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M9603A Unità di misura e generazione di precisione PXIe, 100 fA
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Risorse aggiuntive per il test dei VCSEL a impulso stretto
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