Wie man die Eigenerwärmung bei VCSEL-Tests reduziert

Modulares PXIe Präzisions-SMU
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Reduzierung der Eigenerwärmung während der VCSEL-Tests

Zur Charakterisierung von VCSELs (Vertical Cavity Surface Emitting Lasers) ist es erforderlich, einen kontrollierten Stromimpuls anzulegen und gleichzeitig die elektrische und optische Reaktion des Bauelements zu messen. Bei Kurzpulsmessungen muss der Stromimpuls kurz genug sein, um die Eigenerwärmung zu begrenzen und gleichzeitig die erforderliche Amplitude und Anstiegszeit zu gewährleisten. Strom- und Spannungsmessungen werden während des Impulses erfasst, um das Verhalten des Bauelements unter den angewandten Betriebsbedingungen zu charakterisieren.

Der Test misst die tatsächlichen Strom- und Spannungsverläufe während des kurzen Impulses mittels Hochgeschwindigkeitsabtastung. Die Lichtausbeute kann zudem über den synchronisierten Photodiodenstrom zur Licht-Strom-Spannungs-Charakterisierung (LIV-Charakterisierung) gemessen werden. Die resultierenden Messungen liefern die elektrischen und optischen Daten zur Bestimmung von Kenngrößen wie Durchlassspannung, Schwellenstrom, optischer Leistung, Photodiodenstrom und differentieller Wirkungsgrad (auch Knick genannt).

Schmalpuls-VCSEL-Testlösung

Für die Prüfung von VCSELs mit schmalen Pulsen wird eine Stromquelle benötigt, die kurze Pulse erzeugt und gleichzeitig die Reaktion des Bauelements innerhalb des Pulsmessfensters erfasst. Die Keysight Precision PXIe Source/Measure Unit (SMU) bietet einen Laserdiodenmodus mit kurzer Anstiegszeit und Strompulsen von nur 10 µs. Die integrierte Hochgeschwindigkeitsmessung mit bis zu 15 MSa/s erfasst den tatsächlichen Strompuls sowie die dynamische Strom- und Spannungsantwort, ohne dass ein zusätzliches Messgerät erforderlich ist. Die Lösung unterstützt zudem die Pulsstromversorgung bis zu 10,5 A und ermöglicht so die Charakterisierung schmaler Pulse für eine Vielzahl von VCSEL-Bauelementen und -Arrays.

Blockdiagramm der Testlösung für schmalpulsigen VCSEL

Wie man die Eigenerwärmung bei VCSEL-Tests reduziert

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