VCSEL의 동적 펄스 거동을 특성화하는 방법

모듈형 PXIe 정밀 SMU
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동적 VCSEL 펄스 응답 특성 분석

VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser) 펄스 특성 분석을 위해서는 펄스 구간 전체에서 소자의 전류와 전압을 측정하는 동시에 제어된 전류 펄스를 소싱해야 합니다. 측정 시스템은 좁은 측정 윈도우 내에서 소자 거동의 변화를 관찰할 수 있도록 상승 에지, 펄스 영역, 하강 에지를 해상할 수 있는 충분한 샘플링 속도를 제공해야 합니다.

고속 샘플링은 동적 전압 응답과 함께 소자에 전달된 실제 전류 펄스를 캡처합니다. 과도 영역부터 펄스 플래토(plateau)까지 측정을 수행하여 전기적 특성이 시간과 전류 수준에 따라 어떻게 변하는지 평가할 수 있습니다. 캡처된 파형은 LIV(Light-Current-Voltage) 특성 분석 중에 펄스 모양과 동적 소자 거동을 분석하기 위한 시간 상관 데이터를 제공합니다.

동적 VCSEL 펄스 특성 분석 솔루션

동적 VCSEL 특성 분석에서는 개별 측정점에만 의존하는 대신 좁은 펄스 전체에 걸쳐 전류 및 전압 측정을 캡처해야 합니다. 키사이트 정밀 PXIe SMU(소스/측정 유닛)는 최대 15 MSa/s의 고속 측정 기능을 통합하여 과도 영역에서 실제 전류 펄스 출력과 동적 VCSEL 응답을 캡처합니다. 내장된 측정 기능을 통해 파형 캡처를 위한 추가 장비 없이도 파형을 기록할 수 있습니다. 10 µs까지 내려가는 협폭 전류 펄스 소싱과 결합된 이 솔루션을 통해 엔지니어는 인가된 전류 펄스 동안 펄스 상승, 펄스 지속 시간, 과도 응답 및 소자 특성 변화를 검사할 수 있습니다.

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