Como caracterizar o comportamento dinâmico de pulsos em VCSELs

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Caracterizar a resposta dinâmica do pulso do VCSEL

A caracterização de pulsos de laser de emissão superficial em cavidade vertical (VCSEL) requer a aplicação de um pulso de corrente controlado, ao mesmo tempo em que se mede a corrente e a tensão do dispositivo durante todo o intervalo do pulso. O sistema de medição deve oferecer velocidade de amostragem suficiente para resolver a borda ascendente, a região do pulso e a borda descendente, de modo que as mudanças no comportamento do dispositivo possam ser observadas dentro de uma janela de medição estreita.

A amostragem em alta velocidade captura o pulso de corrente real fornecido ao dispositivo, juntamente com sua resposta dinâmica de tensão. As medições podem ser realizadas desde a região transitória até o platô do pulso, a fim de avaliar como as características elétricas variam com o tempo e o nível de corrente. As formas de onda capturadas fornecem dados correlacionados no tempo para a análise da forma do pulso e do comportamento dinâmico do dispositivo durante a caracterização de Luz-Corrente-Tensão (LIV).

Solução dinâmica para caracterização de pulsos de VCSEL

A caracterização dinâmica de VCSELs requer a captura de medições de corrente e tensão ao longo de um pulso estreito, em vez de depender apenas de pontos de medição individuais. A Unidade de Fonte/Medição (SMU) Precision PXIe da Keysight integra medição de alta velocidade de até 15 MSa/s para capturar a saída real do pulso de corrente e a resposta dinâmica do VCSEL na região transiente. O recurso de medição integrado registra a forma de onda sem a necessidade de um instrumento adicional para a captura da forma de onda. Combinada com a geração de pulsos de corrente estreitos de até 10 µs, a solução permite que os engenheiros examinem a subida do pulso, a duração do pulso, a resposta transitória e as mudanças nas características do dispositivo durante o pulso de corrente aplicado.
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Diagrama de blocos da solução para caracterização dinâmica de pulsos de VCSEL

Como caracterizar o comportamento dinâmico de pulsos em VCSELs

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