Comment caractériser le comportement dynamique des impulsions des VCSEL
Caractérisation de la réponse impulsionnelle dynamique des VCSEL
La caractérisation des impulsions d'un laser à cavité verticale à émission par la surface (VCSEL) nécessite l'application d'une impulsion de courant contrôlée tout en mesurant le courant et la tension du dispositif pendant toute la durée de l'impulsion. Le système de mesure doit offrir une vitesse d'échantillonnage suffisante pour distinguer le front montant, la partie active de l'impulsion et le front descendant, afin de pouvoir observer les variations de comportement du dispositif dans une fenêtre de mesure étroite.
L'échantillonnage à haute vitesse permet de capturer l'impulsion de courant réelle fournie au dispositif ainsi que sa réponse dynamique en tension. Les mesures peuvent être effectuées depuis la région transitoire jusqu'au plateau de l'impulsion afin d'évaluer l'évolution des caractéristiques électriques en fonction du temps et du niveau de courant. Les formes d'onde capturées fournissent des données corrélées dans le temps permettant d'analyser la forme de l'impulsion et le comportement dynamique du dispositif lors de la caractérisation « lumière-courant-tension » (LIV).
Solution de caractérisation des impulsions VCSEL dynamiques
Schéma fonctionnel d'une solution de caractérisation dynamique des impulsions VCSEL
Découvrez les produits de notre solution de caractérisation des impulsions VCSEL dynamiques
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Unité de mesure et de génération de signaux PXIe M9602A, 1 pA
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M9603A : Unité de source/mesure de précision PXIe, 100 fA
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Ressources supplémentaires pour la caractérisation des unités de source/mesure (SMU) PXIe de précision
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