如何表徵 VCSEL 的動態脈衝特性

模組化 PXIe 精密 SMU
+ 模組化 PXIe 精密源極/量測單元 (SMU)

特性化動態 VCSEL 脈衝響應

垂直共振腔面射型雷射(VCSEL)脈衝特性化需要供應受控電流脈衝,同時在整個脈衝間隔期間測量元件電流與電壓。測量系統必須提供足夠的取樣速度,以解析上升緣、脈衝區和下降緣,進而在狹窄的測量視窗內觀察元件行為的變化。

高速取樣可擷取傳遞至元件的實際電流脈衝及其動態電壓響應。測量可從暫態區延伸至脈衝平坦區,以評估電氣特性隨時間和電流水準的變化。擷取的波形能提供具時間相關性的數據,用於在光-電流-電壓(LIV)特性化期間分析脈衝形狀與動態元件行為。

動態 VCSEL 脈衝特性分析解決方案

動態 VCSEL 特性化需要在整個狹窄脈衝期間擷取電流和電壓測量值,而非僅依賴個別測量點。是德科技精密 PXIe 電源量測單元(SMU)整合高達 15 MSa/s 的高速測量功能,可從暫態區擷取實際的電流脈衝輸出與動態 VCSEL 響應。內嵌測量功能可記錄波形,無需額外的波形擷取儀器。結合短至 10 µs 的窄電流脈衝供應,此解決方案讓工程師能夠在施加電流脈衝期間,檢視脈衝上升時間、脈衝持續時間、暫態響應以及元件特性的變化。

動態 VCSEL 脈衝特性分析解決方案方塊圖

如何表徵 VCSEL 的動態脈衝特性

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