如何表徵 VCSEL 的動態脈衝特性

模組化 PXIe 精密 SMU
+ 模組化 PXIe 精密 SMU

動態 VCSEL 脈衝響應特性分析

垂直腔面發射雷射(VCSEL)的脈衝特性分析,需在施加受控電流脈衝的同時,於整個脈衝間隔內測量元件的電流與電壓。測量系統必須具備足夠的採樣速度,以解析上升沿、脈衝區段及下降沿,從而能在狹窄的測量視窗內觀察到元件行為的變化。

高速採樣可擷取傳輸至元件的實際電流脈衝及其動態電壓響應。測量範圍可涵蓋從瞬態區域到脈衝平台期,藉此評估電氣特性隨時間與電流水準的變化。所擷取的波形提供了時間相關數據,可用於在「光-電流-電壓」(LIV)特性分析過程中,分析脈衝波形及元件的動態行為。

動態 VCSEL 脈衝特性分析解決方案

動態 VCSEL 特性分析需要擷取整個窄脈衝期間的電流與電壓測量值,而非僅依賴單一測量點。是德科技 (Keysight) 的精密 PXIe 源/量測單元 (SMU) 整合了最高達 15 MSa/s 的高速測量能力,可擷取實際的電流脈衝輸出以及瞬態區域中的動態 VCSEL 響應。 其內建的量測功能可直接記錄波形,無需額外儀器進行波形擷取。結合最短可達 10 µs 的窄脈衝電流源功能,此解決方案使工程師能夠分析脈衝上升時間、脈衝持續時間、瞬態響應,以及在施加電流脈衝期間的元件特性變化。

動態 VCSEL 脈衝特性分析解決方案的系統方塊圖

如何表徵 VCSEL 的動態脈衝特性

探索我們動態 VCSEL 脈衝特性分析解決方案中的產品

相關應用案例

聯絡我們標誌

聯絡我們的一位專家

需要協助尋找適合您的解決方案嗎?