如何同步 VCSEL 與光電二極體的測量

+ 模組化 PXIe 精密源極/量測單元 (SMU)

同步 VCSEL 與光二極體量測

垂直共振腔面射型雷射 (VCSEL) 的光-電流-電壓 (LIV) 特性分析需要量測雷射驅動電流及其對應的光學響應。當 VCSEL 在窄電流脈衝下運作時，必須與脈衝光輸出同步量測監控光二極體 (PD) 電流。因此，測試設置需要足夠的響應頻寬、高速取樣，以及 VCSEL 激發與 PD 量測之間受控的時序。

此測試對 VCSEL 施加脈衝電流，同時在對應的脈衝區間內量測監控 PD 電流。精確的時序將電氣激發與光學響應量測對齊，而波形擷取則能提供脈衝期間響應的可視性。同步的電流與 PD 量測可提供評估 LIV 特性所需的資料，包括光功率響應、斜率效率和突折 (kink) 行為。

同步 VCSEL 與 PD 量測解決方案

同步 LIV 測試要求在與 VCSEL 驅動脈衝相同的時間區間內量測光二極體響應。Keysight 精密 PXIe 源極/量測單元 (SMU) 支援從直流 (DC) 到脈衝的 VCSEL 與光二極體量測，並在短脈衝量測視窗中提供低雜訊量測、用於波形擷取的နှင့်高速取樣，以及精確的同步時序控制。可以配置一對 Keysight 精密 PXIe 源極/量測單元 (SMU) 來進行 VCSEL 和 PD 量測，其中一個供應 VCSEL 驅動電流，另一個量測對應的 PD 響應。該解決方案在 DC 量測中還支援低至 100 fA 的電流量測解析度，用於暗電流特性分析。

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